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一种光学元件面形检测方法及装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411454742.1
申请日
:
2024-10-17
公开(公告)号
:
CN119245546A
公开(公告)日
:
2025-01-03
发明(设计)人
:
田爱玲
苏嘉明
刘丙才
朱学亮
王红军
王思淇
申请人
:
西安工业大学
申请人地址
:
710021 陕西省西安市未央区学府中路2号
IPC主分类号
:
G01B11/24
IPC分类号
:
代理机构
:
西安双鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 61296
代理人
:
党娟娟;郭永丽
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
陕西省 西安市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-01-21
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/24申请日:20241017
2025-01-03
公开
公开
共 50 条
[1]
一种非球面面形检测方法及装置
[P].
论文数:
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机构:
田爱玲
;
论文数:
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机构:
苏媛
;
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机构:
王红军
;
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机构:
刘丙才
;
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机构:
任柯鑫
;
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机构:
张郁文
;
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机构:
王凯
;
朱亚辉
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机构:
西安工业大学
西安工业大学
朱亚辉
;
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机构:
王思淇
;
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机构:
朱学亮
.
中国专利
:CN116642432B
,2024-07-16
[2]
光学面形的检测装置及光学面形的检测方法
[P].
贾辛
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贾辛
;
邢廷文
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邢廷文
.
中国专利
:CN101949690A
,2011-01-19
[3]
一种光学元件面形检测方法及系统、设备
[P].
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机构:
胡海翔
;
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机构:
张学军
;
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机构:
田明森
;
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机构:
李明茁
.
中国专利
:CN120403490A
,2025-08-01
[4]
一种光学元件面形检测方法及系统、设备
[P].
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机构:
胡海翔
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机构:
张学军
;
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田明森
;
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机构:
李明茁
.
中国专利
:CN120403490B
,2025-08-29
[5]
光学元件面形在位检测装置及其检测方法
[P].
廖德锋
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廖德锋
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谢瑞清
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谢瑞清
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赵世杰
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赵世杰
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陈贤华
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陈贤华
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王健
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王健
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陈健
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陈健
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赵智亮
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赵智亮
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许乔
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许乔
.
中国专利
:CN105043296A
,2015-11-11
[6]
光学元件面形在位检测装置
[P].
廖德锋
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廖德锋
;
谢瑞清
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谢瑞清
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赵世杰
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赵世杰
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陈贤华
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陈贤华
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王健
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王健
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陈健
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陈健
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赵智亮
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赵智亮
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许乔
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许乔
.
中国专利
:CN205262414U
,2016-05-25
[7]
一种光学面形的检测装置及检测方法
[P].
贾辛
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贾辛
;
徐富超
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徐富超
;
谢伟民
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谢伟民
;
邢廷文
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邢廷文
.
中国专利
:CN102735184B
,2012-10-17
[8]
一种光学元件面形在位检测装置
[P].
边心田
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边心田
;
程菊
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程菊
;
左芬
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左芬
.
中国专利
:CN206862285U
,2018-01-09
[9]
平面光学元件面形的检测方法
[P].
张敏
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张敏
;
唐锋
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唐锋
;
王向朝
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王向朝
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戴凤剑
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戴凤剑
.
中国专利
:CN102818534A
,2012-12-12
[10]
非球面光学元件面形检测装置
[P].
李全松
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李全松
;
王汝冬
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王汝冬
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张辉
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张辉
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崔涛
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崔涛
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杨怀江
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杨怀江
;
隋永新
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隋永新
.
中国专利
:CN106643548A
,2017-05-10
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