一种光学元件面形检测方法及装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411454742.1
申请日
2024-10-17
公开(公告)号
CN119245546A
公开(公告)日
2025-01-03
发明(设计)人
田爱玲 苏嘉明 刘丙才 朱学亮 王红军 王思淇
申请人
西安工业大学
申请人地址
710021 陕西省西安市未央区学府中路2号
IPC主分类号
G01B11/24
IPC分类号
代理机构
西安双鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 61296
代理人
党娟娟;郭永丽
法律状态
实质审查的生效
国省代码
陕西省 西安市
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共 50 条
[1]
一种非球面面形检测方法及装置 [P]. 
田爱玲 ;
苏媛 ;
王红军 ;
刘丙才 ;
任柯鑫 ;
张郁文 ;
王凯 ;
朱亚辉 ;
王思淇 ;
朱学亮 .
中国专利 :CN116642432B ,2024-07-16
[2]
光学面形的检测装置及光学面形的检测方法 [P]. 
贾辛 ;
邢廷文 .
中国专利 :CN101949690A ,2011-01-19
[3]
一种光学元件面形检测方法及系统、设备 [P]. 
胡海翔 ;
张学军 ;
田明森 ;
李明茁 .
中国专利 :CN120403490A ,2025-08-01
[4]
一种光学元件面形检测方法及系统、设备 [P]. 
胡海翔 ;
张学军 ;
田明森 ;
李明茁 .
中国专利 :CN120403490B ,2025-08-29
[5]
光学元件面形在位检测装置及其检测方法 [P]. 
廖德锋 ;
谢瑞清 ;
赵世杰 ;
陈贤华 ;
王健 ;
陈健 ;
赵智亮 ;
许乔 .
中国专利 :CN105043296A ,2015-11-11
[6]
光学元件面形在位检测装置 [P]. 
廖德锋 ;
谢瑞清 ;
赵世杰 ;
陈贤华 ;
王健 ;
陈健 ;
赵智亮 ;
许乔 .
中国专利 :CN205262414U ,2016-05-25
[7]
一种光学面形的检测装置及检测方法 [P]. 
贾辛 ;
徐富超 ;
谢伟民 ;
邢廷文 .
中国专利 :CN102735184B ,2012-10-17
[8]
一种光学元件面形在位检测装置 [P]. 
边心田 ;
程菊 ;
左芬 .
中国专利 :CN206862285U ,2018-01-09
[9]
平面光学元件面形的检测方法 [P]. 
张敏 ;
唐锋 ;
王向朝 ;
戴凤剑 .
中国专利 :CN102818534A ,2012-12-12
[10]
非球面光学元件面形检测装置 [P]. 
李全松 ;
王汝冬 ;
张辉 ;
崔涛 ;
杨怀江 ;
隋永新 .
中国专利 :CN106643548A ,2017-05-10