一种电路板老化测试设备

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202420756888.0
申请日
2024-04-12
公开(公告)号
CN222212886U
公开(公告)日
2024-12-20
发明(设计)人
郭浩洋
申请人
苏州峰梅电子科技有限公司
申请人地址
215000 江苏省苏州市相城区太平街道兴太路11号西幢5楼504室
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
G01R1/04
代理机构
安徽华普专利代理事务所(普通合伙) 34151
代理人
高孝强
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种电路板老化测试设备 [P]. 
刘建军 ;
刘辉 .
中国专利 :CN220933026U ,2024-05-10
[2]
一种老化测试电路板 [P]. 
张帆 .
中国专利 :CN216351070U ,2022-04-19
[3]
一种电路板老化测试设备 [P]. 
黄金龙 .
中国专利 :CN118584306B ,2024-10-01
[4]
一种电路板老化测试设备 [P]. 
黄金龙 .
中国专利 :CN118584306A ,2024-09-03
[5]
一种电路板老化测试架 [P]. 
黄继宝 ;
黄波 ;
冮建华 .
中国专利 :CN207557423U ,2018-06-29
[6]
一种电路板老化测试架 [P]. 
曾敏慧 ;
黄乐 .
中国专利 :CN222506502U ,2025-02-18
[7]
一种电路板老化测试架 [P]. 
陈崇元 .
中国专利 :CN210037878U ,2020-02-07
[8]
一种电路板老化测试架 [P]. 
黄财仙 .
中国专利 :CN212483775U ,2021-02-05
[9]
电路板(老化测试板) [P]. 
李斌 .
中国专利 :CN306210624S ,2020-12-04
[10]
一种电路板老化测试架设备 [P]. 
夏立国 ;
陈宗兴 ;
赵志伟 ;
张朔 ;
江浩鹏 .
中国专利 :CN115453311A ,2022-12-09