一种芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411021383.0

申请日：

2024-07-26

公开(公告)号：

CN119201512A

公开(公告)日：

2024-12-27

发明(设计)人：

李益全朱光宇李林鹏刘才齐

申请人：

上海商汤智能科技有限公司

申请人地址：

200233 上海市徐汇区桂平路391号3号楼1605A室

IPC主分类号：

G06F11/07

IPC分类号：

G06F11/22

代理机构：

深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280

代理人：

何倚雯

法律状态：

公开

国省代码：

上海市市辖区

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-27	公开	公开
2025-01-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/07申请日:20240726

共 50 条

[1]

芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN121031489A ,2025-11-28

[2]

芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN120893362A ,2025-11-04

[3]

芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

谢维 .

中国专利 :CN115422864A ,2022-12-02

[4]

芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

向秋东 ;

郭文平 .

中国专利 :CN118627435A ,2024-09-10

[5]

芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

朱永启 ;

刘冠豪 .

中国专利 :CN117131821B ,2024-01-16

[6]

芯片的功能验证方法、装置、存储介质和电子设备 [P].

罗迪 ;

姚香君 ;

许强 ;

刘世伟 ;

姜宝来 ;

李奔 .

中国专利 :CN118428311A ,2024-08-02

[7]

芯片的验证方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

张震 .

中国专利 :CN117350205A ,2024-01-05

[8]

芯片验证方法和装置、电子设备及存储介质 [P].

王飞 .

中国专利 :CN120218008A ,2025-06-27

[9]

芯片验证方法、验证装置、电子设备及存储介质 [P].

徐炜 ;

高红莉 ;

王磊 ;

潘于 .

中国专利 :CN119005081A ,2024-11-22

[10]

芯片设备的验证方法、装置、存储介质和电子设备 [P].

孔德智博 ;

曾昭贵 ;

姚香君 ;

夏丽煖 ;

刘世伟 ;

刘胜军 .

中国专利 :CN118504484A ,2024-08-16

← 1 2 3 4 5 →