平板式半导体器件热阻测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420626541.4

申请日：

2024-03-29

公开(公告)号：

CN222212876U

公开(公告)日：

2024-12-20

发明(设计)人：

廖浩杰吕城宏王子珊李邦洋师明山武阳韦开选叶帆陈昶旭

申请人：

成都恒创智通科技有限公司

申请人地址：

610000 四川省成都市自由贸易试验区成都高新区锦城大道666号4栋25层4号

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R1/02 G01N25/20 H05K7/20

代理机构：

北京艾格律诗专利代理有限公司 11924

代理人：

潘理华

法律状态：

授权

国省代码：

山东省济南市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-20	授权	授权

共 50 条

[1]

一种平板式半导体器件稳态热阻测试装置 [P].

万阿敏 ;

张佳龙 .

中国专利 :CN223450087U ,2025-10-17

[2]

一种平板式半导体器件热阻测试装置 [P].

赵红武 ;

崔志刚 ;

范磊 .

中国专利 :CN217060405U ,2022-07-26

[3]

一种平板式半导体器件稳态热阻测试装置 [P].

杨锋 .

中国专利 :CN216310183U ,2022-04-15

[4]

一种平板式半导体器件稳态热阻测试装置 [P].

李杲宇 ;

张西刚 .

中国专利 :CN218003619U ,2022-12-09

[5]

一种平板式半导体器件稳态热阻测试装置 [P].

颜家圣 ;

吴拥军 ;

邹宗林 ;

羊北平 .

中国专利 :CN2847309Y ,2006-12-13

[6]

一种便携平板式半导体稳态热阻测试装置 [P].

谭显兰 .

中国专利 :CN215415734U ,2022-01-04

[7]

功率半导体器件热阻测试装置 [P].

温景超 ;

王立新 ;

陆江 .

中国专利 :CN203414568U ,2014-01-29

[8]

半导体功率器件热阻测试装置 [P].

符强 ;

殷资 ;

魏建中 .

中国专利 :CN203069740U ,2013-07-17

[9]

一种半导体器件稳态热阻测试装置 [P].

刘静 ;

陈伟 .

中国专利 :CN214150938U ,2021-09-07

[10]

一种稳态热阻的平板式半导体器件 [P].

许一力 ;

刘倩倩 .

中国专利 :CN118969845A ,2024-11-15

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