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一种霍尔元件三维磁场测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202422899210.0
申请日
:
2024-11-27
公开(公告)号
:
CN222319121U
公开(公告)日
:
2025-01-07
发明(设计)人
:
舒晓辉
刘畅
逯海涛
唐川
张珂
申请人
:
成都思科瑞微电子股份有限公司
申请人地址
:
610000 四川省成都市高新区(西区)天虹路5号
IPC主分类号
:
G01R35/00
IPC分类号
:
G01R33/07
代理机构
:
成都三诚知识产权代理事务所(普通合伙) 51251
代理人
:
詹丽红
法律状态
:
授权
国省代码
:
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-01-07
授权
授权
共 50 条
[1]
一种霍尔元件三维磁场测试装置
[P].
茹建成
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茹建成
.
中国专利
:CN215067240U
,2021-12-07
[2]
霍尔磁场元件测试装置
[P].
张博堂
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张博堂
.
中国专利
:CN101320082B
,2008-12-10
[3]
一种霍尔元件测试装置
[P].
张举良
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张举良
;
马仪成
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马仪成
;
焦丽娜
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焦丽娜
;
郭改霞
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郭改霞
;
张雅
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张雅
;
王献奎
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王献奎
;
王萌
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王萌
;
张聪
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张聪
.
中国专利
:CN203396929U
,2014-01-15
[4]
一种霍尔元件测试装置
[P].
牟春乔
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机构:
深圳市易赛贝尔科技有限公司
深圳市易赛贝尔科技有限公司
牟春乔
;
谢根长
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机构:
深圳市易赛贝尔科技有限公司
深圳市易赛贝尔科技有限公司
谢根长
.
中国专利
:CN222545489U
,2025-02-28
[5]
一种霍尔元件测试装置
[P].
曾礼江
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曾礼江
;
柳朝晖
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柳朝晖
;
陶光红
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陶光红
.
中国专利
:CN208780232U
,2019-04-23
[6]
一种大磁场高灵敏的霍尔元件测试装置
[P].
茹建成
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茹建成
.
中国专利
:CN214335195U
,2021-10-01
[7]
一种用于WLCSP的三维磁场测试装置
[P].
杨连宏
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杨连宏
;
罗杰
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罗杰
.
中国专利
:CN218481630U
,2023-02-14
[8]
霍尔元件测试装置
[P].
张举良
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张举良
;
马仪成
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马仪成
;
焦丽娜
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焦丽娜
;
郭改霞
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郭改霞
;
张雅
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张雅
;
王献奎
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王献奎
;
王萌
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王萌
;
张聪
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张聪
.
中国专利
:CN103353311A
,2013-10-16
[9]
一种三维天线测试装置
[P].
李慧
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李慧
.
中国专利
:CN214845506U
,2021-11-23
[10]
一种便携式霍尔元件测试装置
[P].
李亚飞
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机构:
成都思科瑞微电子股份有限公司
成都思科瑞微电子股份有限公司
李亚飞
;
晋兆郁
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机构:
成都思科瑞微电子股份有限公司
成都思科瑞微电子股份有限公司
晋兆郁
;
赵鸿凯
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机构:
成都思科瑞微电子股份有限公司
成都思科瑞微电子股份有限公司
赵鸿凯
;
马开鹏
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机构:
成都思科瑞微电子股份有限公司
成都思科瑞微电子股份有限公司
马开鹏
;
方骞
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机构:
成都思科瑞微电子股份有限公司
成都思科瑞微电子股份有限公司
方骞
.
中国专利
:CN221465679U
,2024-08-02
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