一种探针卡全自动测试系统及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411534267.9

申请日：

2024-10-31

公开(公告)号：

CN119281667A

公开(公告)日：

2025-01-10

发明(设计)人：

曹永焕金光哲朱春月崔相弦

申请人：

江苏晋成半导体有限公司

申请人地址：

214000 江苏省无锡市新吴区长江南路52-5号102

IPC主分类号：

B07C5/02

IPC分类号：

B07C5/34 B07C5/344 B07C5/36 B08B5/02

代理机构：

无锡嘉驰知识产权代理事务所(普通合伙) 32388

代理人：

张华伟

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-10	公开	公开
2025-06-20	专利权质押登记、变更及注销	专利权质押登记IPC(主分类):B07C 5/02登记号:Y2025980020407登记日:20250605出质人:江苏晋成半导体有限公司质权人:中国银行股份有限公司无锡高新技术产业开发区支行发明名称:一种探针卡全自动测试系统及测试方法申请日:20241031授权公告日:20250404
2025-01-28	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):B07C 5/02申请日:20241031
2025-04-04	授权	授权

共 50 条

[1]

一种探针卡全自动测试系统及测试方法 [P].

曹永焕 ;

金光哲 ;

朱春月 ;

崔相弦 .

中国专利 :CN119281667B ,2025-04-04

[2]

一种全自动测试系统及测试方法 [P].

刘昊天 ;

陈琳 ;

郝伟 ;

王一凡 .

中国专利 :CN106155885A ,2016-11-23

[3]

一种封装晶圆阵列微探针全自动测试系统及方法 [P].

李军辉 ;

葛大松 ;

张潇睿 ;

田青 ;

朱文辉 .

中国专利 :CN104820181A ,2015-08-05

[4]

一种封装晶圆阵列微探针全自动测试系统 [P].

李军辉 ;

葛大松 ;

张潇睿 ;

田青 ;

朱文辉 .

中国专利 :CN204595163U ,2015-08-26

[5]

一种接口全自动测试系统及方法 [P].

李鹏超 ;

姚志远 ;

谭福平 ;

李姣 ;

严鹏 .

中国专利 :CN117630559A ,2024-03-01

[6]

PATM全自动测试系统 [P].

普劳斯·大卫·爱德华 .

中国专利 :CN204142906U ,2015-02-04

[7]

一种接口全自动测试系统 [P].

李鹏超 ;

姚志远 ;

谭福平 ;

李姣 ;

严鹏 .

中国专利 :CN221039288U ,2024-05-28

[8]

一种网络模块全自动测试系统及方法 [P].

周洪亮 ;

高峰 ;

屈宏涛 ;

袁江煜 ;

李崇民 ;

温占燕 ;

谢明明 ;

刘姣姣 .

中国专利 :CN115499351A ,2022-12-20

[9]

一种网络模块全自动测试系统及方法 [P].

周洪亮 ;

高峰 ;

屈宏涛 ;

袁江煜 ;

李崇民 ;

温占燕 ;

谢明明 ;

刘姣姣 .

中国专利 :CN115499351B ,2024-09-24

[10]

一种触控智能锁全自动测试系统及方法 [P].

粟佳 .

中国专利 :CN115629271A ,2023-01-20

← 1 2 3 4 5 →