一种用于稳定性同位素质谱仪的进样系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411700369.3

申请日：

2024-11-26

公开(公告)号：

CN119275081A

公开(公告)日：

2025-01-07

发明(设计)人：

刘振兴王飞胡石林徐鹏飞吴希叶一鸣吕卫星

申请人：

安徽中核桐源科技有限公司

申请人地址：

246000 安徽省安庆市桐城经济技术开发区望溪东路2号

IPC主分类号：

H01J49/04

IPC分类号：

代理机构：

北京睿智保诚专利代理事务所(普通合伙) 11732

代理人：

贾立伟

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-24	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):H01J 49/04申请日:20241126
2025-01-07	公开	公开

共 50 条

[1]

一种用于稳定性同位素质谱仪的进样系统 [P].

李月 ;

张国森 .

中国专利 :CN115343491A ,2022-11-15

[2]

一种同位素质谱仪的准确取样和进样装置 [P].

李欢 ;

孙中霞 .

中国专利 :CN207587693U ,2018-07-06

[3]

用于稳定同位素质谱仪双路进样法测试元素同位素时使用的参考气罐 [P].

孙维贞 .

中国专利 :CN205826593U ,2016-12-21

[4]

一种同位素质谱仪 [P].

姜山 ;

靳根明 .

中国专利 :CN108987242A ,2018-12-11

[5]

一种稳定同位素质谱仪离子源 [P].

何俊伟 ;

陈智 ;

谢继红 .

中国专利 :CN115631990B ,2025-09-30

[6]

一种稳定同位素质谱仪离子源 [P].

何俊伟 ;

陈智 ;

谢继红 .

中国专利 :CN115631990A ,2023-01-20

[7]

稳定同位素质谱仪的微量取样器 [P].

李国威 ;

黄洋 ;

郭春华 .

中国专利 :CN117890143A ,2024-04-16

[8]

稳定同位素质谱仪的微量取样器 [P].

李国威 ;

黄洋 ;

郭春华 .

中国专利 :CN117890143B ,2024-11-22

[9]

一种气体同位素质谱计前置进样系统及其进样方法 [P].

侯超 ;

杨凤诚 ;

曹金浩 ;

徐作文 ;

窦鑫 ;

刘佳龙 .

中国专利 :CN115128152A ,2022-09-30

[10]

稳定同位素质谱双路系统高真空进样装置 [P].

尹希杰 ;

郭浩然 .

中国专利 :CN205992522U ,2017-03-01

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