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一种基于MTK芯片的DDR检测方法、系统及介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411420602.2
申请日：
2024-10-12
公开(公告)号：
CN118969055B
公开(公告)日：
2025-01-07
发明(设计)人：
盛小木 黄坤 付维龙
申请人：
深圳市江元智造科技有限公司
申请人地址：
518101 广东省深圳市宝安区沙井街道和一社区兴业西路10号裕达富工业园1号厂房一层二层、三层、四层
IPC主分类号：
G11C29/56
IPC分类号：
G06F11/22
代理机构：
北京惟盛达知识产权代理有限公司 11855
代理人：
张加红
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-12-03 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/56申请日:20241012
2024-11-15 公开 公开
2025-01-07 授权 授权
共 50 条
[1]
一种基于MTK芯片的DDR检测方法、系统及介质 [P]. 
盛小木 ;
黄坤 ;
付维龙 .
中国专利 :CN118969055A ,2024-11-15
[2]
芯片、芯片总线的检测系统、检测方法及存储介质 [P]. 
唐平 .
中国专利 :CN113778734A ,2021-12-10
[3]
芯片、芯片总线的检测系统、检测方法及存储介质 [P]. 
唐平 .
中国专利 :CN113778734B ,2024-07-12
[4]
一种芯片检测方法及芯片检测系统 [P]. 
郑澎 ;
梁诚 ;
郑曙涛 ;
莫树任 .
中国专利 :CN117370755A ,2024-01-09
[5]
一种DDR布线的线长检测方法及系统 [P]. 
尹思静 .
中国专利 :CN108417231A ,2018-08-17
[6]
一种基于FPGA技术的芯片检测方法及系统 [P]. 
廉野 ;
郑强 ;
贾晓东 ;
赵志浩 ;
刘家俊 .
中国专利 :CN118228006B ,2024-08-02
[7]
一种基于FPGA技术的芯片检测方法及系统 [P]. 
廉野 ;
郑强 ;
贾晓东 ;
赵志浩 ;
刘家俊 .
中国专利 :CN118228006A ,2024-06-21
[8]
基于视觉驱动的芯片贴片缺陷检测方法、系统及介质 [P]. 
罗桂 ;
何思琪 .
中国专利 :CN121213504A ,2025-12-26
[9]
一种芯片检测方法、系统、设备及存储介质 [P]. 
施再峰 ;
请求不公布姓名 ;
郑军 .
中国专利 :CN120013863A ,2025-05-16
[10]
芯片的检测方法、系统、装置及存储介质 [P]. 
谢登煌 .
中国专利 :CN116559173B ,2024-12-17
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