一种集成电路测试座

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202420746649.7
申请日
2024-04-11
公开(公告)号
CN222212884U
公开(公告)日
2024-12-20
发明(设计)人
朱红星 李章永 胡宗武
申请人
贵州亚芯微电子有限公司
申请人地址
556011 贵州省黔东南苗族侗族自治州凯里经济开发区大数据产业园5号楼
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
G01R1/04
代理机构
北京云嘉湃富知识产权代理有限公司 11678
代理人
孙中勤
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种集成电路测试平台 [P]. 
官超 .
中国专利 :CN212207570U ,2020-12-22
[2]
一种集成电路测试座 [P]. 
王慧卉 ;
于晓雷 .
中国专利 :CN222420304U ,2025-01-28
[3]
一种集成电路测试座 [P]. 
陆豫君 .
中国专利 :CN220508976U ,2024-02-20
[4]
集成电路测试座 [P]. 
杨光 ;
刘国 ;
冯开勇 ;
王刚 .
中国专利 :CN218213141U ,2023-01-03
[5]
一种集成电路测试座 [P]. 
孔令飞 ;
刘厚东 .
中国专利 :CN222774600U ,2025-04-18
[6]
一种集成电路测试座 [P]. 
李智 .
中国专利 :CN221378046U ,2024-07-19
[7]
集成电路测试座及集成电路测试装置 [P]. 
程振 ;
李志雄 ;
刘旭 ;
王平 ;
燕祖德 .
中国专利 :CN214375125U ,2021-10-08
[8]
一种集成电路测试座的探针脚测试装置 [P]. 
洪学成 .
中国专利 :CN215910595U ,2022-02-25
[9]
一种集成电路测试系统 [P]. 
马云龙 ;
程莹 .
中国专利 :CN217238291U ,2022-08-19
[10]
一种集成电路测试模具 [P]. 
周朝凯 .
中国专利 :CN221303388U ,2024-07-09