缺陷检测模型构建方法、缺陷检测方法及相关装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411318189.9

申请日：

2024-09-20

公开(公告)号：

CN119295854A

公开(公告)日：

2025-01-10

发明(设计)人：

曲世辰陶显屈震

申请人：

中国科学院自动化研究所

申请人地址：

100086 北京市海淀区中关村东路95号

IPC主分类号：

G06V10/774

IPC分类号：

G06V10/80 G06V10/40 G06V10/26 G06V10/82 G06N3/0455 G06N3/096

代理机构：

北京中巡通大知识产权代理有限公司 11703

代理人：

孟大帅

法律状态：

授权

国省代码：

北京市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-17	授权	授权
2025-01-10	公开	公开
2025-01-28	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06V 10/774申请日:20240920

共 50 条

[1]

缺陷检测模型构建方法、缺陷检测方法及相关装置 [P].

曲世辰 ;

陶显 ;

屈震 .

中国专利 :CN119295854B ,2025-10-17

[2]

缺陷检测模型构建方法及缺陷检测方法 [P].

曹晓璐 .

中国专利 :CN121147140A ,2025-12-16

[3]

图像缺陷检测模型构建方法、图像缺陷检测方法及装置 [P].

高明 ;

黄金杰 ;

丁可为 ;

周志彦 .

中国专利 :CN118038200A ,2024-05-14

[4]

图像缺陷检测模型构建方法、图像缺陷检测方法及装置 [P].

高明 ;

黄金杰 ;

丁可为 ;

周志彦 .

中国专利 :CN118038200B ,2025-04-15

[5]

一种缺陷检测模型构建方法、缺陷检测方法及装置 [P].

聂玲 ;

杨洋 ;

梁子寒 .

中国专利 :CN118864870A ,2024-10-29

[6]

缺陷检测模型的构建方法、缺陷检测方法、装置及设备 [P].

曲世辰 ;

陶显 ;

张正涛 ;

韩建文 ;

钟成 .

中国专利 :CN117830781A ,2024-04-05

[7]

构建缺陷检测模型的方法、缺陷检测方法及装置 [P].

张丹清 .

中国专利 :CN119624867A ,2025-03-14

[8]

工业缺陷检测模型构建方法、检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

霍箭东 ;

王玲 ;

王明慧 ;

王健 ;

刘洪双 ;

牟立平 .

中国专利 :CN119090810A ,2024-12-06

[9]

一种缺陷检测模型构建方法、缺陷检测方法、设备及介质 [P].

汪雅雯 ;

吕超鑫 ;

柯旭能 ;

江跃龙 ;

陈伟迅 ;

孟思明 .

中国专利 :CN118521870A ,2024-08-20

[10]

缺陷检测模型训练方法、缺陷检测方法及相关装置 [P].

崔婵婕 ;

任宇鹏 ;

卢维 .

中国专利 :CN111814850B ,2024-10-18

← 1 2 3 4 5 →