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电阻率测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202380042426.0
申请日
:
2023-04-13
公开(公告)号
:
CN119173990A
公开(公告)日
:
2024-12-20
发明(设计)人
:
久米史高
筱原政幸
申请人
:
信越半导体株式会社
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
H01L21/66
IPC分类号
:
G01N27/00
G01N27/06
代理机构
:
北京路浩知识产权代理有限公司 11002
代理人
:
刘言;刘余婷
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-12-20
公开
公开
2025-01-07
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H01L 21/66申请日:20230413
共 50 条
[1]
钢轨电阻率测量方法
[P].
吴宁馨
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吴宁馨
;
赵宇新
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赵宇新
;
胡晓
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胡晓
;
李大东
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李大东
;
张印玲
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张印玲
;
张洪俊
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张洪俊
.
中国专利
:CN104678181B
,2015-06-03
[2]
随钻电阻率测量方法及其方位电阻率工具
[P].
陆永钢
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陆永钢
;
王翔
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王翔
;
吴冠玮
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吴冠玮
;
王际超
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王际超
.
中国专利
:CN106150488A
,2016-11-23
[3]
钕铁硼电阻率测量系统及其测量方法
[P].
任少卿
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任少卿
;
周博阳
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周博阳
;
鲁富强
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鲁富强
;
刘国征
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刘国征
;
郝茜
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郝茜
;
赵明静
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赵明静
;
吕科
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吕科
;
李泉
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李泉
;
高岩
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高岩
;
付建龙
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付建龙
;
王东波
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王东波
;
赵瑞金
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赵瑞金
;
杨光磊
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杨光磊
.
中国专利
:CN113466557A
,2021-10-01
[4]
电阻率的测量装置和测量方法
[P].
王久钰
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王久钰
.
中国专利
:CN109030948B
,2018-12-18
[5]
变线源电阻率连续测量方法
[P].
张鑫
论文数:
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张鑫
.
中国专利
:CN106646635A
,2017-05-10
[6]
硅晶片的电阻率测量方法
[P].
斋藤广幸
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斋藤广幸
;
木村珠美
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木村珠美
;
松村尚
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松村尚
.
中国专利
:CN109307804A
,2019-02-05
[7]
裸眼井地层电阻率瞬态测量方法
[P].
臧德福
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臧德福
;
沈建国
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沈建国
;
张付明
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张付明
;
张守伟
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张守伟
.
中国专利
:CN106321086A
,2017-01-11
[8]
一种电阻率测井仪及电阻率测量方法
[P].
卢涛
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卢涛
;
张志刚
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张志刚
;
马欢波
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马欢波
;
刘耀伟
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刘耀伟
;
黄琳
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黄琳
;
吴兴方
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吴兴方
;
毛保华
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毛保华
;
张中庆
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张中庆
.
中国专利
:CN111364968A
,2020-07-03
[9]
随钻电阻率测量装置及测量方法
[P].
倪卫宁
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倪卫宁
;
李新
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李新
;
陆黄生
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陆黄生
;
张卫
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张卫
;
李三国
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李三国
;
郑奕挺
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郑奕挺
.
中国专利
:CN105089651B
,2015-11-25
[10]
一种岩石电阻率测量装置及其电阻率测量方法
[P].
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机构:
张峰玮
;
论文数:
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机构:
周金龙
;
论文数:
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机构:
曾妍妍
;
论文数:
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机构:
孙英
;
论文数:
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机构:
纪媛媛
;
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机构:
雷米
;
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机构:
葛婷婷
.
中国专利
:CN112345595B
,2025-01-24
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