一种构建磁相机检测图像来实现缺陷成像检测的方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210466533.3

申请日：

2022-04-29

公开(公告)号：

CN114723735B

公开(公告)日：

2024-12-31

发明(设计)人：

刘丽辉马浩陈棣湘潘孟春叶湘滨任远胡佳飞张琦唐莺王晓明邱晓天魏雁宇董灯

申请人：

中国人民解放军国防科技大学

申请人地址：

410073 湖南省长沙市开福区砚瓦池正街47号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/80 G06T3/4053 G06T3/4007

代理机构：

湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008

代理人：

谭武艺

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-31	授权	授权

共 50 条

[1]

一种构建磁相机检测图像来实现缺陷成像检测的方法及系统 [P].

刘丽辉 ;

马浩 ;

陈棣湘 ;

潘孟春 ;

叶湘滨 ;

任远 ;

胡佳飞 ;

张琦 ;

唐莺 ;

王晓明 ;

邱晓天 ;

魏雁宇 ;

董灯 .

中国专利 :CN114723735A ,2022-07-08

[2]

一种磁发射检测系统的构建方法 [P].

张东来 ;

张恩超 ;

高伟 ;

晏小兰 .

中国专利 :CN115078522A ,2022-09-20

[3]

一种磁发射检测系统的构建方法 [P].

张东来 ;

张恩超 ;

高伟 ;

晏小兰 .

中国专利 :CN115078522B ,2024-10-22

[4]

一种点焊缺陷磁光成像无损检测方法及系统 [P].

高向东 ;

季玉坤 ;

张艳喜 .

中国专利 :CN111948278A ,2020-11-17

[5]

一种检测系统、检测方法、缺陷检测设备及缺陷检测方法 [P].

请求不公布姓名 ;

吴昌力 ;

郑军 .

中国专利 :CN119290906A ,2025-01-10

[6]

一种检测系统、检测方法、缺陷检测设备及缺陷检测方法 [P].

请求不公布姓名 ;

吴昌力 .

中国专利 :CN118731033A ,2024-10-01

[7]

磁光成像检测系统、自适应励磁及缺陷量化方法 [P].

李肖 ;

秦敬昌 ;

李伟 ;

牟振强 ;

袁新安 .

中国专利 :CN119619273B ,2025-06-27

[8]

磁光成像检测系统、自适应励磁及缺陷量化方法 [P].

李肖 ;

秦敬昌 ;

李伟 ;

牟振强 ;

袁新安 .

中国专利 :CN119619273A ,2025-03-14

[9]

一种点焊缺陷磁光成像无损检测系统 [P].

高向东 ;

季玉坤 ;

张艳喜 .

中国专利 :CN212391429U ,2021-01-22

[10]

一种图像传感器系统表面缺陷检测方法及检测装置 [P].

臧春龙 .

中国专利 :CN120703104A ,2025-09-26

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