寄存器扰动装置、芯片验证方法和系统、设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410306384.3
申请日
2024-03-18
公开(公告)号
CN118133771B
公开(公告)日
2025-01-17
发明(设计)人
李竹一
申请人
南京金阵微电子技术有限公司
申请人地址
210000 江苏省南京市中国(江苏)自由贸易试验区南京片区研创园团结路99号孵鹰大厦2251室
IPC主分类号
G06F30/398
IPC分类号
代理机构
上海光华专利事务所(普通合伙) 31219
代理人
徐秋平
法律状态
授权
国省代码
江苏省 南京市
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共 50 条
[1]
寄存器扰动装置、芯片验证方法和系统、设备及存储介质 [P]. 
李竹一 .
中国专利 :CN118133771A ,2024-06-04
[2]
芯片寄存器的系统级验证方法、系统、设备及存储介质 [P]. 
杨静 ;
邵海波 ;
乐亚平 .
中国专利 :CN114330177B ,2025-06-06
[3]
芯片寄存器的系统级验证方法、系统、设备及存储介质 [P]. 
杨静 ;
邵海波 ;
乐亚平 .
中国专利 :CN114330177A ,2022-04-12
[4]
寄存器的验证方法、装置、设备和介质 [P]. 
付胜伟 .
中国专利 :CN115080120A ,2022-09-20
[5]
寄存器的验证方法、装置、设备和介质 [P]. 
付胜伟 .
中国专利 :CN115080120B ,2024-07-19
[6]
寄存器验证方法、装置、设备、可读存储介质和程序产品 [P]. 
卿梦娇 ;
李超 ;
戴泽国 .
中国专利 :CN119808673A ,2025-04-11
[7]
寄存器的验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
钊雪会 ;
王涛 ;
蒋国亮 .
中国专利 :CN118550779B ,2025-01-14
[8]
一种寄存器验证方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
刘君 .
中国专利 :CN114139476B ,2025-05-02
[9]
寄存器的验证方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
钊雪会 ;
王涛 ;
蒋国亮 .
中国专利 :CN118550779A ,2024-08-27
[10]
一种寄存器验证方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
刘君 .
中国专利 :CN114139476A ,2022-03-04