测试数据处理方法、装置、电子设备及介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210908259.0

申请日：

2022-07-29

公开(公告)号：

CN115328082B

公开(公告)日：

2025-01-21

发明(设计)人：

郭彬

申请人：

重庆长安汽车股份有限公司

申请人地址：

400020 重庆市江北区鱼嘴镇长安汽车全球研发中心

IPC主分类号：

G05B23/02

IPC分类号：

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201

代理人：

张伟

法律状态：

授权

国省代码：

重庆市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-21	授权	授权

共 50 条

[1]

测试数据处理方法、装置、电子设备及介质 [P].

郭彬 .

中国专利 :CN115328082A ,2022-11-11

[2]

测试数据处理方法、装置、电子设备及介质 [P].

柯司博 ;

刘翔 ;

蔡良 ;

李小琴 ;

陈家顺 .

中国专利 :CN112799970A ,2021-05-14

[3]

测试数据处理方法、装置、测试系统、电子设备及介质 [P].

谭新艳 ;

李冬 .

中国专利 :CN117352181B ,2025-03-21

[4]

测试数据处理方法、装置、测试系统、电子设备及介质 [P].

谭新艳 ;

李冬 .

中国专利 :CN117352181A ,2024-01-05

[5]

测试数据处理方法、装置及电子设备 [P].

刘君 .

中国专利 :CN111858320B ,2024-05-17

[6]

测试数据处理方法、装置及电子设备 [P].

刘君 .

中国专利 :CN111858320A ,2020-10-30

[7]

测试数据处理方法、装置及电子设备 [P].

王圆圆 ;

李茜 ;

贾凌云 ;

王涛 ;

武肖飞 ;

赵大平 ;

王琪 ;

黄智勇 ;

潘天海 ;

陈效华 .

中国专利 :CN119829415A ,2025-04-15

[8]

测试数据处理方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张嘉杰 ;

李文山 ;

胡欣欣 ;

侯雪莹 .

中国专利 :CN119473815A ,2025-02-18

[9]

测试数据处理方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李彬 ;

代振元 ;

扆毅 .

中国专利 :CN121069143A ,2025-12-05

[10]

测试数据处理方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

董天翼 ;

刘坚 ;

陈觅慧 .

中国专利 :CN111181800A ,2020-05-19

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