光轴平行度测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411419540.3

申请日：

2024-10-11

公开(公告)号：

CN119437090A

公开(公告)日：

2025-02-14

发明(设计)人：

王海诚姚松坚陈建钦贺豪曾锦钞

申请人：

深圳市东正光学技术股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道翠宝路32号新屋吓工业园1栋6楼整层

IPC主分类号：

G01B11/27

IPC分类号：

G01M11/04 G01M11/02

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

李艳丽

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-04	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/27申请日:20241011
2025-02-14	公开	公开

共 50 条

[1]

一种发射接收光轴平行度测量装置及测量方法 [P].

董涛 ;

秦红旗 ;

罗潇 ;

田丽 ;

王阳阳 .

中国专利 :CN111458108B ,2024-07-30

[2]

一种发射接收光轴平行度测量装置及测量方法 [P].

董涛 ;

秦红旗 ;

罗潇 ;

田丽 ;

王阳阳 .

中国专利 :CN111458108A ,2020-07-28

[3]

多光轴平行度测量系统 [P].

张振宇 ;

王皓 ;

熊海林 .

中国专利 :CN207472218U ,2018-06-08

[4]

多光轴平行度测量系统及方法 [P].

张振宇 ;

王皓 ;

熊海林 .

中国专利 :CN107830821B ,2018-03-23

[5]

光轴平行度精确测量系统及方法 [P].

丁楠 ;

段荣 ;

朱娜 .

中国专利 :CN104567738A ,2015-04-29

[6]

一种大口径长焦距光轴平行度的测量系统及其测量方法 [P].

胡明勇 ;

陈光宇 ;

杨传龙 .

中国专利 :CN114216659A ,2022-03-22

[7]

一种发射接收光轴平行度测量装置 [P].

董涛 ;

秦红旗 ;

罗潇 ;

田丽 ;

王阳阳 .

中国专利 :CN211927241U ,2020-11-13

[8]

显微系统光轴垂直度的测量方法 [P].

王晋疆 ;

韩瑞雨 ;

聂凯 ;

刘阳 .

中国专利 :CN102183221A ,2011-09-14

[9]

光轴与安装基面平行度的检验方法 [P].

叶露 ;

马军 .

中国专利 :CN1236278C ,2004-11-03

[10]

测量孔平行度用测量夹具及测量方法 [P].

马鹤 ;

张朝林 .

中国专利 :CN106123750B ,2016-11-16

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