基于电光采样的太赫兹偏振测量方法和系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411908158.9

申请日：

2024-12-24

公开(公告)号：

CN119354336A

公开(公告)日：

2025-01-24

发明(设计)人：

吕治辉孙旭张栋文吴海忠王力郑志刚孟从森王小伟赵增秀

申请人：

中国人民解放军国防科技大学

申请人地址：

410000 湖南省长沙市开福区德雅路109号

IPC主分类号：

G01J4/00

IPC分类号：

代理机构：

宁波琳芳连专利代理事务所(普通合伙) 33596

代理人：

孙琳

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-24	公开	公开
2025-02-18	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01J 4/00申请日:20241224
2025-03-14	授权	授权

共 50 条

[1]

基于电光采样的太赫兹偏振测量方法和系统 [P].

吕治辉 ;

孙旭 ;

张栋文 ;

吴海忠 ;

王力 ;

郑志刚 ;

孟从森 ;

王小伟 ;

赵增秀 .

中国专利 :CN119354336B ,2025-03-14

[2]

太赫兹偏振分析器及太赫兹偏振测量方法 [P].

张亮亮 ;

钟华 ;

邓朝 ;

张存林 .

中国专利 :CN101726362B ,2010-06-09

[3]

一种用于测量太赫兹光脉冲的电光取样装置及测量方法 [P].

徐世祥 ;

高艳霞 ;

李景镇 .

中国专利 :CN101701852B ,2010-05-05

[4]

基于光采样的电光强度调制器幅频特性测量方法及装置 [P].

马阳雪 ;

张旨遥 ;

张尚剑 ;

张雅丽 ;

刘永 .

中国专利 :CN108918092B ,2018-11-30

[5]

基于光采样的射频频率测量方法及装置 [P].

戴一堂 ;

闫励 ;

徐坤 ;

伍剑 ;

李岩 ;

洪小斌 ;

郭宏翔 ;

左勇 ;

林金桐 .

中国专利 :CN102981048A ,2013-03-20

[6]

用于运行偏振测量设备的方法和偏振测量设备 [P].

阿拉什·米尔哈米德 ;

扬-亨里克·夸斯特 ;

马蒂亚斯·杜韦 ;

丹尼尔·塞韦林斯 .

德国专利 :CN117597576A ,2024-02-23

[7]

基于散射效应的太赫兹波谱测量装置及其测量方法 [P].

杨涛 ;

黄维 ;

朱永元 ;

李兴鳌 ;

何浩培 .

中国专利 :CN105572076A ,2016-05-11

[8]

基于干涉效应的太赫兹波谱测量装置及其测量方法 [P].

杨涛 ;

黄维 ;

朱永元 ;

何浩培 ;

周馨慧 ;

仪明东 .

中国专利 :CN105651385A ,2016-06-08

[9]

基于衍射效应的太赫兹波谱测量装置及其测量方法 [P].

杨涛 ;

黄维 ;

何浩培 ;

朱永元 .

中国专利 :CN105675131A ,2016-06-15

[10]

基于气体的太赫兹波相干探测器及太赫兹波偏振探测方法 [P].

张景 .

中国专利 :CN106052873A ,2016-10-26

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