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一种改进型YOLOv8芯片表面缺陷轻量化目标检测模型及其训练方法与应用

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411453712.9
申请日：
2024-10-17
公开(公告)号：
CN119399143A
公开(公告)日：
2025-02-07
发明(设计)人：
孙佩月 顾寄南 黄娟 夏子林 姜宝康 高艳 向泓宇 王翔 杨绍俊
申请人：
江苏大学
申请人地址：
212013 江苏省镇江市学府路301
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06V10/80 G06V10/82 G06N3/0464 G06N3/082
代理机构：
南京智造力知识产权代理有限公司 32382
代理人：
汪芬
法律状态：
公开
国省代码：
江苏省 镇江市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-02-07 公开 公开
2025-02-25 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241017
共 50 条
[1]
一种改进型YOLOv8芯片表面缺陷检测模型及其构建方法和应用 [P]. 
顾寄南 ;
高艳 ;
王文波 ;
夏子林 ;
刘文新 ;
单韵竹 ;
朱永民 ;
姜宝康 ;
向泓宇 .
中国专利 :CN119399146A ,2025-02-07
[2]
一种基于改进YOLOv8的小样本芯片表面缺陷检测模型构建方法及应用 [P]. 
王翔 ;
顾寄南 ;
黄娟 ;
王文波 ;
向泓宇 ;
杨绍俊 ;
孙佩月 ;
高艳 .
中国专利 :CN120070343A ,2025-05-30
[3]
一种基于改进YOLOv8-seg芯片表面缺陷分割模型及其训练方法和应用 [P]. 
顾寄南 ;
朱永民 ;
单韵竹 ;
姜宝康 ;
李静 ;
高艳 ;
向泓宇 .
中国专利 :CN119399144A ,2025-02-07
[4]
基于改进YOLOv8的轻量化目标检测方法及系统 [P]. 
李志星 ;
庞玉东 ;
李天昊 .
中国专利 :CN119323668A ,2025-01-17
[5]
基于改进YOLOv8的轻量化目标检测方法及系统 [P]. 
李志星 ;
庞玉东 ;
李天昊 .
中国专利 :CN119323668B ,2025-07-15
[6]
一种基于改进YOLOv8的芯片表面缺陷检测方法 [P]. 
耿丽清 ;
朱心颖 ;
杨耿煌 .
中国专利 :CN120198388A ,2025-06-24
[7]
一种基于改进YOLOv8轻量化目标学习检测方法 [P]. 
唐俊 ;
胥立军 ;
耿江涛 ;
唐振宁 .
中国专利 :CN118212588B ,2024-09-06
[8]
一种基于改进YOLOv8轻量化目标学习检测方法 [P]. 
唐俊 ;
胥立军 ;
耿江涛 ;
唐振宁 .
中国专利 :CN118212588A ,2024-06-18
[9]
一种基于改进YOLOv8的芯片表面缺陷检测方法及系统 [P]. 
唐武海 ;
陈华 ;
夏红杰 ;
贾玉博 ;
吴文豪 .
中国专利 :CN119831936A ,2025-04-15
[10]
基于改进YOLOV8网络的芯片表面缺陷检测方法 [P]. 
邓阳君 ;
唐文杰 ;
喻志强 ;
龙陈锋 ;
王伟业 ;
刘艳金 ;
李睿 .
中国专利 :CN120374555A ,2025-07-25
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