工件缺陷映射方法、系统、电子设备和计算机存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411509011.2

申请日：

2024-10-28

公开(公告)号：

CN119380127A

公开(公告)日：

2025-01-28

发明(设计)人：

姚燕军郭志鹏王中伟

申请人：

北京适创科技有限公司

申请人地址：

100083 北京市海淀区清华东路35号北京林业大学学研中心3层3051号

IPC主分类号：

G06V10/77

IPC分类号：

G06T7/00 G06T17/00

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

杨丹丹

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06V 10/77申请日:20241028
2025-01-28	公开	公开

共 50 条

[1]

地址映射方法、装置、电子设备和计算机存储介质 [P].

陈浩 ;

黄明亮 ;

鄢贵海 .

中国专利 :CN118502882A ,2024-08-16

[2]

映射方法、映射系统和计算机存储介质 [P].

龚兆明 ;

杨昊 ;

付纳科 .

中国专利 :CN117044107B ,2024-11-15

[3]

充电方法、电子设备、系统和计算机存储介质 [P].

刘柯辰 ;

郭鑫 ;

习敏 ;

田欣 ;

许萌 .

中国专利 :CN118677043A ,2024-09-20

[4]

缺陷检测方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

蔡旗 ;

潘华东 ;

殷俊 ;

高美 ;

李中振 .

中国专利 :CN114219758A ,2022-03-22

[5]

设备控制方法、系统、电子设备和计算机存储介质 [P].

熊立双 ;

王傅磊 ;

刘顺 ;

刘东 ;

姚炜 .

中国专利 :CN116582608B ,2025-08-08

[6]

勺子缺陷检测方法、系统、电子设备及计算机存储介质 [P].

曾志强 ;

邓照贤 ;

王晓栋 ;

严菲 ;

金季岚 ;

张泓 .

中国专利 :CN116152534B ,2025-12-23

[7]

显示方法、电子设备和计算机存储介质 [P].

王小梅 ;

宁锐 ;

吴显 ;

刘学致 ;

申智博 ;

陈立 .

中国专利 :CN118295746B ,2025-07-15

[8]

交互方法、电子设备和计算机存储介质 [P].

陈钰函 ;

刘爱兵 ;

李子尧 .

中国专利 :CN121050638A ,2025-12-02

[9]

显示方法、电子设备和计算机存储介质 [P].

郝佩 ;

范亚琼 ;

陈俊杰 .

中国专利 :CN118803115A ,2024-10-18

[10]

显示方法、电子设备和计算机存储介质 [P].

王小梅 ;

宁锐 ;

吴显 ;

刘学致 ;

申智博 ;

陈立 .

中国专利 :CN120917425A ,2025-11-07

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