一种芯片自动测试台

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510052403.9
申请日
2025-01-14
公开(公告)号
CN119471328A
公开(公告)日
2025-02-18
发明(设计)人
林敏 周亚南 谢青秀 赵振宇 刘如意
申请人
光子集成(温州)创新研究院
申请人地址
325000 浙江省温州市龙湾区蒲州街道兴平路396号光电大厦5层
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
G01R1/04 G01B11/00
代理机构
温州名创知识产权代理有限公司 33258
代理人
王彬根
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种芯片自动测试台 [P]. 
李勇 ;
刘湘鹏 ;
刘振华 .
中国专利 :CN218412641U ,2023-01-31
[2]
一种芯片测试系统和芯片自动测试台 [P]. 
黄思琪 ;
郭庆锐 ;
杨全勇 .
中国专利 :CN213457228U ,2021-06-15
[3]
自动测试台 [P]. 
凌群 ;
夏冰晨 ;
张宁 .
中国专利 :CN205334221U ,2016-06-22
[4]
一种硬盘自动测试台 [P]. 
顾文彪 ;
熊波 .
中国专利 :CN217955448U ,2022-12-02
[5]
一种自动测试台 [P]. 
巴胜华 .
中国专利 :CN213302396U ,2021-05-28
[6]
水表自动测试台 [P]. 
柏伟 ;
孙伟帏 ;
孙运琪 ;
单正虎 .
中国专利 :CN105953870A ,2016-09-21
[7]
水表自动测试台 [P]. 
柏伟 ;
孙伟帏 ;
孙运琪 ;
单正虎 .
中国专利 :CN205826079U ,2016-12-21
[8]
一种注水机构和芯片自动测试台 [P]. 
彭琪 ;
宋周周 ;
林玉 .
中国专利 :CN213210357U ,2021-05-14
[9]
一种GDT自动测试台 [P]. 
张久功 ;
刘东军 ;
李健 ;
付连平 .
中国专利 :CN113484709B ,2024-09-17
[10]
一种GDT自动测试台 [P]. 
张久功 ;
刘东军 ;
李健 ;
付连平 .
中国专利 :CN113484709A ,2021-10-08