测试探针清洁装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421119189.1

申请日：

2024-05-22

公开(公告)号：

CN222428724U

公开(公告)日：

2025-02-07

发明(设计)人：

马佳奇许科张磊纪金鸿王换换

申请人：

万向一二三股份公司

申请人地址：

310000 浙江省杭州市萧山区经济技术开发区建设二路855号

IPC主分类号：

B08B3/08

IPC分类号：

B08B3/10 B08B3/12 B08B13/00 F26B21/00

代理机构：

杭州裕阳联合专利代理有限公司 33289

代理人：

郜洪祥

法律状态：

授权

国省代码：

安徽省宣城市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-07	授权	授权

共 50 条

[1]

测试探针清洁方法 [P].

贺涛 ;

金永斌 ;

丁宁 ;

朱伟 .

中国专利 :CN112462104B ,2021-03-09

[2]

测试探针、测试探针模块及测试装置 [P].

魏津 ;

胡雪原 ;

徐润生 .

中国专利 :CN113466504B ,2021-10-01

[3]

测试探针装置 [P].

谭艳萍 ;

黄俊华 ;

廉成 ;

宋福民 ;

高云峰 .

中国专利 :CN103513069A ,2014-01-15

[4]

测试探针装置 [P].

A·伊勒 ;

J·基恩 .

德国专利 :CN119585624A ,2025-03-07

[5]

一种PCB板测试探针清洁装置 [P].

王玲 ;

王媛媛 .

中国专利 :CN222220460U ,2024-12-24

[6]

测试探针 [P].

周焱 ;

但艺 ;

许卓 ;

付剑波 ;

朱海鹏 ;

梁鹏 ;

张玉青 ;

冉敏 ;

卓越越 ;

侯帅 ;

金熙哲 ;

吴海龙 .

中国专利 :CN108226583A ,2018-06-29

[7]

测试探针 [P].

蔡兴杰 .

中国专利 :CN221378066U ,2024-07-19

[8]

测试探针 [P].

蔡宗明 ;

黄文强 ;

陈永辉 ;

李尧 .

中国专利 :CN114062737B ,2025-04-15

[9]

测试探针 [P].

蔡宗明 ;

曾翔 ;

蔡明峻 ;

李尧 .

中国专利 :CN213750022U ,2021-07-20

[10]

测试探针 [P].

李亚楠 ;

刘文明 ;

辛晓冬 ;

潘美泽 ;

孙晓宾 ;

杨大鹏 .

中国专利 :CN215984929U ,2022-03-08

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