一种芯片测试机的调整机构

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420923787.8

申请日：

2024-04-29

公开(公告)号：

CN222461524U

公开(公告)日：

2025-02-11

发明(设计)人：

陈钢全朱海马王成欣尚利

申请人：

山东芯诺电子科技股份有限公司

申请人地址：

272100 山东省济宁市兖州区经济开发区永安路路北

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/28

代理机构：

青岛发思特专利商标代理有限公司 37212

代理人：

黄玲玉

法律状态：

授权

国省代码：

山东省济宁市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-11	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试机的调整机构 [P].

钟树 ;

谢刚刚 ;

陈勇 ;

梁延培 ;

袁刚 ;

郑朝生 .

中国专利 :CN218099481U ,2022-12-20

[2]

一种芯片测试机的调整机构 [P].

雷行 ;

郭秋节 ;

李海凤 .

中国专利 :CN118465502A ,2024-08-09

[3]

一种芯片测试机的调整机构 [P].

杨荣辉 ;

陆小艺 .

中国专利 :CN222506383U ,2025-02-18

[4]

芯片测试机的调整机构 [P].

陈飞豪 .

中国专利 :CN119471324A ,2025-02-18

[5]

一种芯片测试机用调整机构 [P].

李凤文 ;

陈晨 .

中国专利 :CN119147939A ,2024-12-17

[6]

一种芯片测试机的插拔机构及芯片测试机 [P].

张爱林 .

中国专利 :CN223107976U ,2025-07-15

[7]

一种芯片测试机的翻转机构 [P].

张伟军 ;

晏云飞 ;

陈迎涛 ;

周俊 .

中国专利 :CN207636711U ,2018-07-20

[8]

芯片测试机构及测试机 [P].

张磊 ;

陈波 .

中国专利 :CN216595407U ,2022-05-24

[9]

一种芯片测试机构 [P].

庄渊胜 ;

蔡江梁 ;

王强 .

中国专利 :CN213122195U ,2021-05-04

[10]

一种芯片测试设备的测试机构 [P].

张治强 ;

杨师 ;

苏允康 .

中国专利 :CN223051462U ,2025-07-01

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