质量分析器和质谱仪

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010635522.4
申请日
2020-07-03
公开(公告)号
CN112242292B
公开(公告)日
2025-01-17
发明(设计)人
V·什切普诺夫
申请人
株式会社岛津制作所
申请人地址
日本京都府
IPC主分类号
H01J49/06
IPC分类号
H01J49/26
代理机构
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人
刘新宇
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
质量分析器和质谱仪 [P]. 
V·什切普诺夫 .
中国专利 :CN112242292A ,2021-01-19
[2]
质量分析器和具有该质量分析器的质谱仪 [P]. 
张小华 ;
张华 .
中国专利 :CN102683153A ,2012-09-19
[3]
适于质谱仪的质量分析器 [P]. 
李向广 ;
蔡克亚 ;
尚元贺 ;
韩乐乐 ;
李康康 ;
张子奇 .
中国专利 :CN212412000U ,2021-01-26
[4]
适于质谱仪的质量分析器 [P]. 
李向广 ;
蔡克亚 ;
尚元贺 ;
韩乐乐 ;
李康康 ;
张子奇 .
中国专利 :CN111883415A ,2020-11-03
[5]
质量分析器 [P]. 
丁力 ;
亚历山大·鲁西诺夫 .
中国专利 :CN106663588B ,2017-05-10
[6]
质量分析器 [P]. 
丁力 ;
亚历山大·鲁西诺夫 .
中国专利 :CN110060918B ,2019-07-26
[7]
质量分析器和质量分析方法 [P]. 
L.丁 ;
M.苏达科夫 ;
S.库马希罗 .
中国专利 :CN103493173B ,2014-01-01
[8]
离子质量分析器 [P]. 
吴云昭 ;
韩乐乐 ;
尚元贺 ;
李向广 ;
张子奇 ;
蔡克亚 .
中国专利 :CN112435914B ,2024-10-11
[9]
负脉冲延迟引出装置、方法、质量分析器和质谱仪 [P]. 
王新宇 ;
王敏 ;
罗德耀 ;
黄晓 ;
范荣荣 ;
王攀攀 ;
王开天 ;
朱辉 .
中国专利 :CN117577504A ,2024-02-20
[10]
质量分析器 [P]. 
赛义德·鲍姆塞勒克 ;
柏拉卡斯·斯里达尔·穆尔蒂 ;
戴夫·安德森 .
中国专利 :CN110392918B ,2019-10-29