内存溢出事件处理方法、装置、电子设备和存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510027816.1
申请日
2025-01-08
公开(公告)号
CN119440741A
公开(公告)日
2025-02-14
发明(设计)人
余登峰
申请人
中电云计算技术有限公司
申请人地址
430056 湖北省武汉市经济技术开发区人工智能科技园N栋研发楼3层N3013号
IPC主分类号
G06F9/455
IPC分类号
G06F9/50
代理机构
北京集智东方知识产权代理有限公司 11578
代理人
刘林
法律状态
公开
国省代码
安徽省 宣城市
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共 50 条
[1]
内存溢出处理方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
路小霞 ;
丁方伟 ;
封侣 .
中国专利 :CN112965851A ,2021-06-15
[2]
内存溢出处理方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
宋瀚章 .
中国专利 :CN117539607A ,2024-02-09
[3]
内存溢出检测方法、电子设备和存储介质 [P]. 
陈安宝 ;
张辉 .
中国专利 :CN118964047B ,2025-01-07
[4]
内存溢出检测方法、电子设备和存储介质 [P]. 
陈安宝 ;
张辉 .
中国专利 :CN118964047A ,2024-11-15
[5]
内存处理方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
江志国 .
中国专利 :CN119357076A ,2025-01-24
[6]
事件处理方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
邹成兵 .
中国专利 :CN120162117A ,2025-06-17
[7]
事件处理方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
刘伟 ;
周李奇翰 .
中国专利 :CN119645577A ,2025-03-18
[8]
事件处理方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
程孟辉 .
中国专利 :CN117369832A ,2024-01-09
[9]
内存溢出OOM的处理方法、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
刘德平 .
中国专利 :CN109582442A ,2019-04-05
[10]
内存故障处理方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
胡晓伟 .
中国专利 :CN111708653A ,2020-09-25