一种温度传感器芯片老化测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420785925.0

申请日：

2024-04-16

公开(公告)号：

CN222420452U

公开(公告)日：

2025-01-28

发明(设计)人：

何卓通何汝通

申请人：

肇庆市卓盈电子科技有限公司

申请人地址：

526060 广东省肇庆市端州区龙腾路2号双龙科创产业谷二期3栋2单元202、302、402、502

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04 G01K15/00

代理机构：

安徽顺超知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 34120

代理人：

李照

法律状态：

授权

国省代码：

广东省肇庆市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-28	授权	授权

共 50 条

[1]

传感器老化测试装置 [P].

赵雪 ;

欧瑞萍 .

中国专利 :CN201867202U ,2011-06-15

[2]

一种氮氧传感器芯片老化测试装置 [P].

王梦寻 ;

徐斌 ;

孔德方 ;

吴启凡 .

中国专利 :CN222420457U ,2025-01-28

[3]

一种氮氧传感器芯片老化测试装置 [P].

陈舜 .

中国专利 :CN218180785U ,2022-12-30

[4]

一种氮氧传感器芯片老化测试装置 [P].

谭浩 ;

陈丽芳 ;

张敏环 ;

熊建杰 ;

罗敏 .

中国专利 :CN204613355U ,2015-09-02

[5]

温度传感器芯片测试装置及测试方法 [P].

王玉 .

中国专利 :CN105371991A ,2016-03-02

[6]

一种传感器老化测试装置 [P].

张伟 .

中国专利 :CN210070986U ,2020-02-14

[7]

一种温度传感器芯片测试装置及测试方法 [P].

夏贤冲 ;

颜天宝 .

中国专利 :CN114754901A ,2022-07-15

[8]

一种温度传感器的测试装置 [P].

刘洪建 .

中国专利 :CN217276582U ,2022-08-23

[9]

传感器电老化测试装置 [P].

杨雪飞 ;

陈远谋 .

中国专利 :CN201945645U ,2011-08-24

[10]

一种温度传感器测试装置 [P].

董颍珂 ;

权志勇 .

中国专利 :CN209069460U ,2019-07-05

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