X射线荧光光谱分析设备的标定方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211340252.X

申请日：

2022-10-28

公开(公告)号：

CN115684232B

公开(公告)日：

2025-02-18

发明(设计)人：

黄宇翔张贝贡志锋陈治均郑翠芳陈金文李卓张雪娜洪峰

申请人：

深圳市埃芯半导体科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙华区观澜街道库坑社区库坑观光路1310号喷油车间6栋101

IPC主分类号：

G01N23/223

IPC分类号：

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

徐晓龙

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-18	授权	授权

共 50 条

[1]

X射线荧光光谱分析设备的标定方法及装置 [P].

黄宇翔 ;

张贝 ;

贡志锋 ;

陈治均 ;

郑翠芳 ;

陈金文 ;

李卓 ;

张雪娜 ;

洪峰 .

中国专利 :CN115684232A ,2023-02-03

[2]

用于X射线荧光光谱分析的熔剂 [P].

袁家义 ;

白雪冰 ;

吕振生 .

中国专利 :CN1800811B ,2006-07-12

[3]

一种X射线荧光光谱分析装置 [P].

梁志宏 .

中国专利 :CN201773074U ,2011-03-23

[4]

X射线荧光光谱分析玻璃样片存放装置 [P].

张蕾 ;

许超 ;

魏春阳 ;

陈宁娜 ;

吴龙水 .

中国专利 :CN221563932U ,2024-08-20

[5]

用于X射线荧光光谱分析的织物样片 [P].

窦怀智 ;

申晓萍 ;

侯晋 .

中国专利 :CN203191238U ,2013-09-11

[6]

用X射线荧光光谱分析生铁成分的方法 [P].

杜登福 .

中国专利 :CN105241907B ,2016-01-13

[7]

一种便携X射线荧光光谱分析装置 [P].

王清亚 ;

李福生 ;

曾伟伟 ;

彭惠珍 ;

李欢 ;

马浩然 ;

张焱 ;

张丽娇 ;

汤彬 ;

徐木强 .

中国专利 :CN209215263U ,2019-08-06

[8]

用于X射线荧光光谱分析的多个样品制备 [P].

J·M·L·N·加西亚 .

中国专利 :CN104903698A ,2015-09-09

[9]

X‑射线荧光光谱分析仪 [P].

韩晓朋 .

中国专利 :CN104502386B ,2015-04-08

[10]

一种在线X射线荧光光谱分析系统 [P].

张海涛 ;

张锁江 .

中国专利 :CN106908466A ,2017-06-30

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