光学设备精度测量装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421312363.4

申请日：

2024-06-07

公开(公告)号：

CN222418935U

公开(公告)日：

2025-01-28

发明(设计)人：

余慈玲赵晓波林锋磊曾健怀王亚平

申请人：

先临三维科技股份有限公司

申请人地址：

311258 浙江省杭州市萧山区闻堰街道湘滨路1398号

IPC主分类号：

G01B11/00

IPC分类号：

G01B11/25

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司 11240

代理人：

王姣

法律状态：

授权

国省代码：

浙江省杭州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-28	授权	授权

共 50 条

[1]

套刻测量装置及光学设备 [P].

周晓磊 ;

杨晓青 .

中国专利 :CN113741149A ,2021-12-03

[2]

光学设备 [P].

夏九 ;

王元鹏 .

中国专利 :CN208607434U ,2019-03-15

[3]

光学设备 [P].

陈燕晟 ;

游进洲 ;

陈俊民 ;

廖政顺 ;

萧舒展 .

中国专利 :CN203981983U ,2014-12-03

[4]

光学设备 [P].

松村直树 ;

高须隆雄 .

中国专利 :CN203250100U ,2013-10-23

[5]

光学设备 [P].

游进洲 ;

陈俊民 ;

萧舒展 ;

廖政顺 .

中国专利 :CN203930220U ,2014-11-05

[6]

光学设备 [P].

笠原章吾 .

日本专利 :CN222014561U ,2024-11-15

[7]

光学设备 [P].

斯特芬·延奇 ;

马丁·穆勒 ;

霍斯特·沃达科 ;

马丁·鲁梅莱因 .

德国专利 :CN221584304U ,2024-08-23

[8]

光学设备 [P].

李贤寿 .

中国专利 :CN208332137U ,2019-01-04

[9]

光学设备 [P].

李治国 ;

禹孟初 .

中国专利 :CN221446388U ,2024-07-30

[10]

光学设备 [P].

新井努 ;

须江猛 .

中国专利 :CN214793729U ,2021-11-19

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