微波器件射频测试用夹具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202323482773.1

申请日：

2023-12-20

公开(公告)号：

CN222461605U

公开(公告)日：

2025-02-11

发明(设计)人：

于长江王雪艳王琳郭跃伟段磊孔令旭张家祺屈晓敏赵玥阳

申请人：

河北博威集成电路有限公司

申请人地址：

050000 河北省石家庄市鹿泉区开发区昌盛大街21号

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04 G01R1/02

代理机构：

石家庄国为知识产权事务所 13120

代理人：

穆瑞荷

法律状态：

授权

国省代码：

河北省石家庄市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-11	授权	授权

共 50 条

[1]

微波器件测试夹具 [P].

周玉军 ;

柴俊标 ;

卜建明 .

中国专利 :CN306774801S ,2021-08-24

[2]

发光器件测试用夹具 [P].

徐鹏嵩 ;

郭孝明 ;

朱晶 ;

张文刚 .

中国专利 :CN212432483U ,2021-01-29

[3]

微波器件测试用辅助保护装置 [P].

杨林 ;

蔡挺夫 ;

陈远红 ;

刘建国 .

中国专利 :CN210465579U ,2020-05-05

[4]

一种微波器件测试用压紧装置 [P].

默江辉 ;

杨中月 ;

李亮 ;

崔玉兴 ;

付兴昌 ;

蔡树军 ;

杨克武 .

中国专利 :CN204142769U ,2015-02-04

[5]

一种微波器件测试用扭环 [P].

李亮 ;

默江辉 ;

崔玉兴 ;

付兴昌 ;

蔡树军 ;

杨克武 .

中国专利 :CN204142776U ,2015-02-04

[6]

一种微波器件测试用压紧设备 [P].

叶长顶 .

中国专利 :CN218382945U ,2023-01-24

[7]

一种微波器件测试用压紧装置 [P].

王琳华 .

中国专利 :CN210742395U ,2020-06-12

[8]

一种用于微波器件测试夹具 [P].

章莉 ;

刘虹 ;

陈锡佩 .

中国专利 :CN211528487U ,2020-09-18

[9]

一种高频微波器件测试用固定工装 [P].

蔡挺夫 ;

杨林 ;

陈远红 ;

刘建国 .

中国专利 :CN210499921U ,2020-05-12

[10]

一种射频信号测试用微波开关矩阵 [P].

于澎 ;

潘鑫 ;

闫金栋 ;

刘晓敏 ;

王岩 ;

王万斌 ;

王跃 ;

王希 ;

齐阳 ;

朱琳 ;

李娟 ;

宋铮 ;

李乃海 .

中国专利 :CN202797193U ,2013-03-13

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