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测试装置及测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411684786.3
申请日
:
2024-11-22
公开(公告)号
:
CN119471319A
公开(公告)日
:
2025-02-18
发明(设计)人
:
陈鹏
鹿福祥
陈传禄
袁森
黄凯琳
杨阔
张杰俊
王锦效
申请人
:
中国质量认证中心有限公司
申请人地址
:
100070 北京市丰台区南四环西路188号九区5号楼
IPC主分类号
:
G01R31/28
IPC分类号
:
G01R31/52
G01R31/54
代理机构
:
北京正理专利代理有限公司 11257
代理人
:
张帆
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
北京市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-03-07
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20241122
2025-02-18
公开
公开
共 50 条
[1]
测试装置及测试方法
[P].
田总福
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
田总福
;
付博
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0
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
付博
;
孙健
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0
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0
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0
机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
孙健
;
张郑欣
论文数:
0
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0
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0
机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
张郑欣
;
郭蕾
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0
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0
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0
机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
郭蕾
;
张佳立
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
张佳立
;
崔军蕊
论文数:
0
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0
机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
崔军蕊
;
张鹏举
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0
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0
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
张鹏举
;
付和平
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0
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0
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0
机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
付和平
.
中国专利
:CN118937770A
,2024-11-12
[2]
测试电路、测试装置及测试方法
[P].
毛怀宇
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0
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毛怀宇
;
李威
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0
李威
.
中国专利
:CN113945831A
,2022-01-18
[3]
测试电路、测试装置及测试方法
[P].
毛怀宇
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0
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机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
毛怀宇
;
李威
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0
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机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
李威
.
中国专利
:CN113945831B
,2025-04-11
[4]
相机测试装置及相机测试方法
[P].
许哲涛
论文数:
0
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许哲涛
.
中国专利
:CN115643396A
,2023-01-24
[5]
测试装置及测试方法
[P].
郭建超
论文数:
0
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机构:
苏州元脑智能科技有限公司
苏州元脑智能科技有限公司
郭建超
;
赵胜
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机构:
苏州元脑智能科技有限公司
苏州元脑智能科技有限公司
赵胜
.
中国专利
:CN120407314B
,2025-09-02
[6]
测试装置及测试方法
[P].
郭建超
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机构:
苏州元脑智能科技有限公司
苏州元脑智能科技有限公司
郭建超
;
赵胜
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机构:
苏州元脑智能科技有限公司
苏州元脑智能科技有限公司
赵胜
.
中国专利
:CN120407314A
,2025-08-01
[7]
测试装置及测试方法
[P].
王非非
论文数:
0
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0
王非非
;
徐振宾
论文数:
0
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0
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0
徐振宾
.
中国专利
:CN111551800A
,2020-08-18
[8]
测试装置及测试方法
[P].
上林弘典
论文数:
0
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0
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0
上林弘典
.
中国专利
:CN100458458C
,2006-10-18
[9]
测试装置及测试方法
[P].
田村贤仁
论文数:
0
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0
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0
田村贤仁
.
中国专利
:CN102077104A
,2011-05-25
[10]
BMS板测试装置、测试系统及测试方法
[P].
杨磊
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杨磊
;
彭如谋
论文数:
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0
彭如谋
.
中国专利
:CN111337869B
,2020-06-26
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