一种pin针共面度检测设备及其检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411910544.1

申请日：

2024-12-24

公开(公告)号：

CN119354050A

公开(公告)日：

2025-01-24

发明(设计)人：

何生茂闫朋雷邢文龙

申请人：

德中（深圳）激光智能科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区松岗街道东方社区田洋五路9号101

IPC主分类号：

G01B11/00

IPC分类号：

G01C11/04

代理机构：

深圳市科冠知识产权代理有限公司 44355

代理人：

王海骏

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-18	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/00申请日:20241224
2025-03-07	授权	授权
2025-01-24	公开	公开

共 50 条

[1]

一种pin针共面度检测设备及其检测方法 [P].

何生茂 ;

闫朋雷 ;

邢文龙 .

中国专利 :CN119354050B ,2025-03-07

[2]

一种共面度参数检测方法 [P].

朱运 ;

李丽 ;

邢凤文 .

中国专利 :CN112833831A ,2021-05-25

[3]

一种共面度检测装置及共面度检测方法 [P].

雷志辉 ;

陈大军 .

中国专利 :CN101619960A ,2010-01-06

[4]

一种PIN针检测设备 [P].

张明璐 ;

龙家望 .

中国专利 :CN222739710U ,2025-04-11

[5]

一种刺绣针强度检测设备及其检测方法 [P].

石镜明 .

中国专利 :CN118111824A ,2024-05-31

[6]

一种刺绣针强度检测设备及其检测方法 [P].

石镜明 .

中国专利 :CN118111824B ,2025-02-14

[7]

芯片共面度检测设备 [P].

王伟杰 ;

郭温良 .

中国专利 :CN114199170A ,2022-03-18

[8]

芯片共面度检测设备 [P].

王伟杰 ;

郭温良 .

中国专利 :CN212645664U ,2021-03-02

[9]

芯片共面度检测设备 [P].

王伟杰 ;

郭温良 .

中国专利 :CN114199170B ,2025-06-03

[10]

一种FPC母排超声波焊接外观检测设备及其检测方法 [P].

何生茂 ;

闫朋雷 ;

邢文龙 .

中国专利 :CN119595652A ,2025-03-11

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