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批间产品差异和个体异质性的恒加速退化试验设计方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411505882.7
申请日
:
2024-10-28
公开(公告)号
:
CN119312689A
公开(公告)日
:
2025-01-14
发明(设计)人
:
王志琼
陈炳锟
刘继明
刘津彤
谷东伟
李念洹
申请人
:
吉林大学
申请人地址
:
130012 吉林省长春市朝阳区前进大街2699号
IPC主分类号
:
G06F30/27
IPC分类号
:
G06F119/14
代理机构
:
长春同源信诚知识产权代理事务所(普通合伙) 22226
代理人
:
于晓庆
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
吉林省 长春市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-02-07
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G06F 30/27申请日:20241028
2025-01-14
公开
公开
共 28 条
[1]
一种基于最小偏差度的加速退化试验优化设计方法
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
锁斌
;
论文数:
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机构:
齐洋
;
论文数:
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机构:
方艳红
;
杨童博
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机构:
西南科技大学
西南科技大学
杨童博
.
中国专利
:CN117610324B
,2024-04-16
[2]
一种基于最小偏差度的加速退化试验优化设计方法
[P].
论文数:
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机构:
锁斌
;
论文数:
引用数:
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机构:
齐洋
;
论文数:
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机构:
方艳红
;
杨童博
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0
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机构:
西南科技大学
西南科技大学
杨童博
.
中国专利
:CN117610324A
,2024-02-27
[3]
基于加速因子不变原则的加速退化试验优化设计方法
[P].
王浩伟
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王浩伟
;
滕克难
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滕克难
;
盖炳良
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盖炳良
;
滕飞
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滕飞
;
李季颖
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李季颖
;
孙媛
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孙媛
.
中国专利
:CN106991074A
,2017-07-28
[4]
融合加速寿命及加速退化的产品综合试验方法和装置
[P].
潘广泽
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
潘广泽
;
孙立军
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中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
孙立军
;
李丹
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中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
李丹
;
刘文威
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中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
刘文威
;
周健
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中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
周健
;
王远航
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中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
王远航
;
纪春阳
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中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
纪春阳
.
中国专利
:CN117993220A
,2024-05-07
[5]
融合加速寿命及加速退化的产品综合试验方法和装置
[P].
潘广泽
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中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
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潘广泽
;
孙立军
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中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
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孙立军
;
李丹
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中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
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李丹
;
刘文威
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中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
刘文威
;
周健
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中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
周健
;
王远航
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中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
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王远航
;
纪春阳
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
纪春阳
.
中国专利
:CN117993220B
,2024-07-23
[6]
考虑样本个体差异的不确定加速退化建模和分析方法
[P].
李晓阳
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李晓阳
;
吴纪鹏
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吴纪鹏
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康锐
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康锐
.
中国专利
:CN109766518A
,2019-05-17
[7]
融入个体异质性和动态从众性的网络舆情极化方法及其系统
[P].
陈庭贵
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陈庭贵
;
李倩倩
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李倩倩
;
王伟刚
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王伟刚
.
中国专利
:CN110807251A
,2020-02-18
[8]
基于贝叶斯理论的步进应力加速退化试验优化设计方法
[P].
李晓阳
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李晓阳
;
葛蒸蒸
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葛蒸蒸
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范宇
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范宇
.
中国专利
:CN102622473A
,2012-08-01
[9]
运算放大器的加速退化试验设计及可靠性评估方法及系统
[P].
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机构:
曾颖
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黄土地
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机构:
黄鑫
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机构:
米金华
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李静
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机构:
黄洪钟
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翟世奇
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机构:
电子科技大学
电子科技大学
翟世奇
.
中国专利
:CN119578331A
,2025-03-07
[10]
基于加速退化试验的产品平均失效前时间评估方法和装置
[P].
潘广泽
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潘广泽
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李丹
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李丹
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王春辉
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王春辉
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王远航
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王远航
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刘文威
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刘文威
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丁小健
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丁小健
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董成举
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董成举
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陈勃琛
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陈勃琛
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中国专利
:CN113946986B
,2022-01-18
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