玻璃边部检测装置及检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411277918.0

申请日：

2024-09-12

公开(公告)号：

CN119354992A

公开(公告)日：

2025-01-24

发明(设计)人：

李成胡恒广闫冬成黄星桦

申请人：

东旭科技集团有限公司

申请人地址：

100070 北京市丰台区四合庄路2号院4号楼1至17层101内11层1112

IPC主分类号：

G01N21/896

IPC分类号：

G01N21/89

代理机构：

北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348

代理人：

赵洋;刘铁生

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-24	公开	公开
2025-02-18	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/896申请日:20240912

共 50 条

[1]

一种玻璃边部检测装置及玻璃边部检测方法 [P].

胡坚 ;

于利君 ;

廖文琅 ;

李杨帆 .

中国专利 :CN119438231A ,2025-02-14

[2]

玻璃边部检测装置 [P].

陈靖 .

中国专利 :CN214792964U ,2021-11-19

[3]

一种通用型玻璃边部检测装置及通用型玻璃边部检测方法 [P].

胡坚 ;

于利君 ;

廖文琅 ;

李杨帆 .

中国专利 :CN118817706B ,2025-01-17

[4]

一种通用型玻璃边部检测装置及通用型玻璃边部检测方法 [P].

胡坚 ;

于利君 ;

廖文琅 ;

李杨帆 .

中国专利 :CN118817706A ,2024-10-22

[5]

玻璃边部缺陷检测方法及其装置和系统 [P].

方红义 ;

李青 ;

董光明 ;

林海峰 ;

邵东 ;

石志强 ;

李震 ;

李俊生 .

中国专利 :CN106525869B ,2024-03-22

[6]

玻璃边部缺陷检测方法及其装置和系统 [P].

方红义 ;

李青 ;

董光明 ;

林海峰 ;

邵东 ;

石志强 ;

李震 ;

李俊生 .

中国专利 :CN106525869A ,2017-03-22

[7]

玻璃边部缺陷的检测方法 [P].

干丛龙 ;

李青 ;

李赫然 ;

石志强 ;

李震 ;

郭标富 ;

陈德青 ;

廉涛 .

中国专利 :CN113702401A ,2021-11-26

[8]

硬币边部质量检测方法及其检测装置 [P].

张正 ;

王学文 ;

刘艳华 ;

曹扬 ;

郑镇鑫 ;

李志军 .

中国专利 :CN104123780A ,2014-10-29

[9]

台阶部检测装置及台阶部检测方法 [P].

藤江公子 ;

柳泽典男 .

中国专利 :CN111621930B ,2020-09-04

[10]

去边检测装置及检测方法 [P].

戴文俊 .

中国专利 :CN103715115B ,2014-04-09

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