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一种构件图像的弱监督缺陷检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411496149.3
申请日
:
2024-10-25
公开(公告)号
:
CN119444698A
公开(公告)日
:
2025-02-14
发明(设计)人
:
黄魁东
曾洋
申请人
:
西北工业大学
申请人地址
:
710072 陕西省西安市碑林区友谊西路127号
IPC主分类号
:
G06T7/00
IPC分类号
:
G06V10/26
G06V10/44
G06V10/774
G06V10/80
G06V10/82
G06N3/0464
G06N3/0895
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
陕西省 西安市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-09-26
授权
授权
2025-02-14
公开
公开
2025-03-04
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241025
共 50 条
[1]
一种构件图像的弱监督缺陷检测方法
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
黄魁东
;
曾洋
论文数:
0
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0
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0
机构:
西北工业大学
西北工业大学
曾洋
.
中国专利
:CN119444698B
,2025-09-26
[2]
基于图像分割与降噪的弱监督钢铁表面缺陷检测方法
[P].
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引用数:
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机构:
黄文明
;
蒋慧强
论文数:
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机构:
桂林电子科技大学
桂林电子科技大学
蒋慧强
;
论文数:
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机构:
肖雁南
;
温雅媛
论文数:
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0
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机构:
桂林电子科技大学
桂林电子科技大学
温雅媛
;
论文数:
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机构:
邓珍荣
;
论文数:
引用数:
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机构:
蓝如师
;
韦曦
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机构:
桂林电子科技大学
桂林电子科技大学
韦曦
;
田伟
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机构:
桂林电子科技大学
桂林电子科技大学
田伟
;
覃勤智
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机构:
桂林电子科技大学
桂林电子科技大学
覃勤智
;
陈昱任
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机构:
桂林电子科技大学
桂林电子科技大学
陈昱任
.
中国专利
:CN117876335A
,2024-04-12
[3]
基于弱监督学习的毛丝缺陷图像检测方法
[P].
论文数:
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机构:
叶炜
;
论文数:
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机构:
赵博文
;
论文数:
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机构:
王智
;
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机构:
王文海
.
中国专利
:CN115908423B
,2025-12-05
[4]
基于弱监督的芯片表面缺陷检测方法及装置、相关产品
[P].
曾小光
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机构:
忆月启函(成都)科技有限公司
忆月启函(成都)科技有限公司
曾小光
;
张立明
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机构:
忆月启函(成都)科技有限公司
忆月启函(成都)科技有限公司
张立明
;
蒋荟林
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机构:
忆月启函(成都)科技有限公司
忆月启函(成都)科技有限公司
蒋荟林
;
胡坚珉
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机构:
忆月启函(成都)科技有限公司
忆月启函(成都)科技有限公司
胡坚珉
;
肖龙光
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机构:
忆月启函(成都)科技有限公司
忆月启函(成都)科技有限公司
肖龙光
;
迟京一
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0
机构:
忆月启函(成都)科技有限公司
忆月启函(成都)科技有限公司
迟京一
.
中国专利
:CN119067921A
,2024-12-03
[5]
一种基于端到端弱监督的瓷砖表面缺陷检测方法及系统
[P].
高向东
论文数:
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0
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高向东
;
刘永恒
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刘永恒
;
高鹏宇
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高鹏宇
;
张艳喜
论文数:
0
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0
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0
张艳喜
.
中国专利
:CN115641321A
,2023-01-24
[6]
一种基于图像重建的无监督缺陷检测方法
[P].
论文数:
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机构:
敖强
;
论文数:
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机构:
吴静
.
中国专利
:CN118397373A
,2024-07-26
[7]
一种弱监督的IVOCT图像异常区域检测方法
[P].
辛景民
论文数:
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辛景民
;
石培文
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石培文
;
郑南宁
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郑南宁
.
中国专利
:CN111444969B
,2020-07-24
[8]
一种半监督深度学习缺陷检测方法
[P].
刘叶清
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刘叶清
;
郑小青
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郑小青
;
郑松
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郑松
;
孔亚广
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孔亚广
;
江爱朋
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0
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江爱朋
.
中国专利
:CN114998202A
,2022-09-02
[9]
一种半监督深度学习缺陷检测方法
[P].
刘叶清
论文数:
0
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机构:
杭州电子科技大学
杭州电子科技大学
刘叶清
;
论文数:
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机构:
郑小青
;
论文数:
引用数:
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机构:
郑松
;
论文数:
引用数:
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机构:
孔亚广
;
论文数:
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机构:
江爱朋
.
中国专利
:CN114998202B
,2025-06-17
[10]
基于弱监督目标检测的工业品表面缺陷位置检测方法
[P].
董航程
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董航程
;
刘国栋
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刘国栋
;
刘炳国
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刘炳国
;
黄颖妍
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黄颖妍
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蒋宇浩
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蒋宇浩
;
叶东
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叶东
.
中国专利
:CN115661123A
,2023-01-31
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