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一种基于光谱共焦技术的顶点测量装置及方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510070971.1
申请日
:
2025-01-16
公开(公告)号
:
CN119492328A
公开(公告)日
:
2025-02-21
发明(设计)人
:
刘杰波
申请人
:
深圳立仪科技有限公司
申请人地址
:
518000 广东省深圳市光明区玉塘街道田寮社区科陆智慧能源产业园4栋1501
IPC主分类号
:
G01B11/00
IPC分类号
:
G01B11/06
代理机构
:
北京华艺德嘉知识产权代理有限公司 16326
代理人
:
王爱军
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-03-11
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/00申请日:20250116
2025-04-22
授权
授权
2025-02-21
公开
公开
共 50 条
[1]
一种基于光谱共焦技术的顶点测量装置及方法
[P].
刘杰波
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳立仪科技有限公司
深圳立仪科技有限公司
刘杰波
.
中国专利
:CN119492328B
,2025-04-22
[2]
一种多点光谱共焦测量方法
[P].
刘杰波
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳立仪科技有限公司
深圳立仪科技有限公司
刘杰波
.
中国专利
:CN119354099A
,2025-01-24
[3]
一种基于光谱共焦技术的内径测量系统
[P].
华志超
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0
华志超
;
吴新峰
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吴新峰
;
周远荣
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周远荣
;
周羊华
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0
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0
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周羊华
;
王海涛
论文数:
0
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0
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0
王海涛
.
中国专利
:CN218270613U
,2023-01-10
[4]
线光谱共焦测量装置
[P].
刘柱
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机构:
苏州精创光学仪器有限公司
苏州精创光学仪器有限公司
刘柱
;
王修璞
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机构:
苏州精创光学仪器有限公司
苏州精创光学仪器有限公司
王修璞
;
朱登宝
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机构:
苏州精创光学仪器有限公司
苏州精创光学仪器有限公司
朱登宝
;
朱莎
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机构:
苏州精创光学仪器有限公司
苏州精创光学仪器有限公司
朱莎
.
中国专利
:CN221173297U
,2024-06-18
[5]
光谱共焦测量装置及测量方法
[P].
王锦峰
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王锦峰
;
罗媛
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罗媛
;
何京
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何京
;
寇冠中
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0
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寇冠中
.
中国专利
:CN111879239B
,2020-11-03
[6]
一种基于光谱共焦技术的叶尖间隙测量系统
[P].
段发阶
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段发阶
;
黄婷婷
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黄婷婷
;
蒋佳佳
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蒋佳佳
;
傅骁
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傅骁
;
叶德超
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0
叶德超
.
中国专利
:CN208383077U
,2019-01-15
[7]
一种基于光谱共焦技术的叶尖间隙测量系统
[P].
段发阶
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段发阶
;
黄婷婷
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0
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黄婷婷
;
蒋佳佳
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0
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蒋佳佳
;
傅骁
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傅骁
;
叶德超
论文数:
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0
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0
叶德超
.
中国专利
:CN108680114A
,2018-10-19
[8]
光阑及光谱共焦测量装置
[P].
冯晓帆
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机构:
武汉精测电子集团股份有限公司
武汉精测电子集团股份有限公司
冯晓帆
;
邓俊涛
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机构:
武汉精测电子集团股份有限公司
武汉精测电子集团股份有限公司
邓俊涛
;
邓忠光
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机构:
武汉精测电子集团股份有限公司
武汉精测电子集团股份有限公司
邓忠光
;
周家成
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机构:
武汉精测电子集团股份有限公司
武汉精测电子集团股份有限公司
周家成
;
余安澜
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机构:
武汉精测电子集团股份有限公司
武汉精测电子集团股份有限公司
余安澜
;
郑增强
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机构:
武汉精测电子集团股份有限公司
武汉精测电子集团股份有限公司
郑增强
.
中国专利
:CN222850762U
,2025-05-09
[9]
一种光谱共焦测量装置
[P].
杜勇刚
论文数:
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0
杜勇刚
;
谭晓军
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谭晓军
;
郭号
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郭号
;
周峰
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0
周峰
.
中国专利
:CN216846117U
,2022-06-28
[10]
一种光谱共焦测量装置
[P].
邓俊涛
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机构:
武汉精测电子集团股份有限公司
武汉精测电子集团股份有限公司
邓俊涛
;
韦晨
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机构:
武汉精测电子集团股份有限公司
武汉精测电子集团股份有限公司
韦晨
;
王进文
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机构:
武汉精测电子集团股份有限公司
武汉精测电子集团股份有限公司
王进文
;
洪志坤
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机构:
武汉精测电子集团股份有限公司
武汉精测电子集团股份有限公司
洪志坤
;
查雯静
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机构:
武汉精测电子集团股份有限公司
武汉精测电子集团股份有限公司
查雯静
;
欧昌东
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0
机构:
武汉精测电子集团股份有限公司
武汉精测电子集团股份有限公司
欧昌东
.
中国专利
:CN222652144U
,2025-03-21
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