光学模块测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421286873.9

申请日：

2024-06-06

公开(公告)号：

CN222544966U

公开(公告)日：

2025-02-28

发明(设计)人：

徐健

申请人：

苏州大懿智能装备有限公司

申请人地址：

215600 江苏省苏州市张家港市杨舍镇福新路国家再制造产业示范基地B04幢

IPC主分类号：

G01M11/00

IPC分类号：

B25B11/00

代理机构：

苏州市港澄专利代理事务所(普通合伙) 32304

代理人：

许莉莉

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-28	授权	授权

共 50 条

[1]

光学模块测试装置 [P].

夏子阳 ;

王建 ;

李玉森 .

中国专利 :CN209894446U ,2020-01-03

[2]

IGBT模块测试装置 [P].

韩波 ;

刘天宇 ;

冯建鑫 .

中国专利 :CN110780177A ,2020-02-11

[3]

光学测试装置 [P].

奥托·布基 .

德国专利 :CN117589079A ,2024-02-23

[4]

光学测试装置 [P].

张跃兴 .

中国专利 :CN216247126U ,2022-04-08

[5]

光学测试装置 [P].

张维维 .

中国专利 :CN108562540A ,2018-09-21

[6]

光学测试装置 [P].

吴昊 ;

黄婕妤 ;

于洪俊 .

中国专利 :CN101825781A ,2010-09-08

[7]

光学测试装置 [P].

蒋锡煜 ;

刘丰 .

中国专利 :CN202661384U ,2013-01-09

[8]

模块测试装置 [P].

黄鑫 ;

刘帮于 .

中国专利 :CN120103093A ,2025-06-06

[9]

光学测试装置及光学测试方法 [P].

肖冯俊树 .

中国专利 :CN110879135B ,2020-03-13

[10]

显示模块测试装置及测试方法 [P].

金春松 .

中国专利 :CN101825669A ,2010-09-08

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