缺陷检测方法、装置和电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411676324.7

申请日：

2024-11-21

公开(公告)号：

CN119540202A

公开(公告)日：

2025-02-28

发明(设计)人：

曹聪聪马领玉张伟赵银峰王胜

申请人：

北京维信诺科技有限公司

申请人地址：

100085 北京市海淀区上地东路1号院7号楼2层201

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/764 G06V10/82 G06V10/40 G06N3/047 G06N3/08 G06N7/01

代理机构：

北京华进京联知识产权代理有限公司 11606

代理人：

乔改利

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-28	公开	公开
2025-03-18	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20241121

共 50 条

[1]

检测夹具、检测装置、缺陷检测方法和电子设备 [P].

李新涛 ;

王新 ;

丁根业 .

中国专利 :CN117929385A ,2024-04-26

[2]

缺陷检测方法、装置和电子设备 [P].

杨建乔 .

中国专利 :CN119887707A ,2025-04-25

[3]

屏幕缺陷检测方法、装置和电子设备 [P].

宋秀峰 ;

张一凡 ;

刘杰 ;

张文超 .

中国专利 :CN112348773B ,2021-02-09

[4]

物体缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

于洋 ;

黄雪峰 ;

熊海飞 .

中国专利 :CN113420844B ,2021-09-21

[5]

缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

牛临潇 ;

李诚 .

中国专利 :CN112288724A ,2021-01-29

[6]

缺陷检测模型的构建方法、缺陷检测方法、装置及电子设备 [P].

钟浩 ;

唐广锟 ;

汪凌峰 ;

马连宏 ;

徐友瑞 ;

郝紫霄 ;

鲍元亮 ;

臧鹏 ;

王好文 .

中国专利 :CN118918092A ,2024-11-08

[7]

缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

陈诗伟 ;

孙新 .

中国专利 :CN117853425A ,2024-04-09

[8]

缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

王硕 ;

董其波 .

中国专利 :CN117808752A ,2024-04-02

[9]

缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

黄弯弯 ;

张武龙 ;

吕文尔 .

中国专利 :CN113436131A ,2021-09-24

[10]

缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

王硕 ;

董其波 .

中国专利 :CN117808753A ,2024-04-02

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