一种电子元器件的故障检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411812776.3

申请日：

2024-10-21

公开(公告)号：

CN119535063A

公开(公告)日：

2025-02-28

发明(设计)人：

朱旭敏刘建新

申请人：

南通向日亚精密机电科技有限公司

申请人地址：

226300 江苏省南通市通州区兴仁镇工业园区

IPC主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G06F17/15

代理机构：

南通领众知识产权代理事务所(普通合伙) 32700

代理人：

吕晨熠

法律状态：

公开

国省代码：

江苏省南通市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-28	公开	公开
2025-05-02	发明专利申请公布后的撤回	发明专利申请公布后的撤回IPC(主分类):G01R 31/00申请公布日:20250228
2025-03-18	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/00申请日:20241021

共 50 条

[1]

一种电子元器件的故障检测方法及系统 [P].

朱旭敏 ;

刘建新 .

中国专利 :CN118962320A ,2024-11-15

[2]

一种电子元器件的故障检测方法及系统 [P].

朱旭敏 ;

刘建新 .

中国专利 :CN118962320B ,2024-12-27

[3]

一种电子元器件的故障检测方法及系统 [P].

陈焕杰 ;

陈聪敏 ;

宋旭东 .

中国专利 :CN120747028A ,2025-10-03

[4]

一种电子元器件的故障检测方法及系统 [P].

周友良 ;

张亚彬 .

中国专利 :CN121114620A ,2025-12-12

[5]

一种基于红外热成像的电子元器件早期故障检测方法 [P].

郭镇瑀 .

中国专利 :CN121164775A ,2025-12-19

[6]

一种基于人工智能的电子元器件故障检测方法 [P].

吴志坚 ;

李君航 ;

陈志扬 .

中国专利 :CN119598255A ,2025-03-11

[7]

一种电子元器件检测设备和电子元器件检测方法 [P].

邹玮 .

中国专利 :CN117862041B ,2024-07-23

[8]

一种电子元器件检测设备和电子元器件检测方法 [P].

邹玮 .

中国专利 :CN117862041A ,2024-04-12

[9]

电子元器件的检测方法 [P].

路浩通 ;

刘恒 ;

郑学恒 ;

高祎璠 .

中国专利 :CN117741377A ,2024-03-22

[10]

一种电子元器件检测方法 [P].

杜正平 ;

田雨 ;

张宏民 ;

程天鑫 .

中国专利 :CN118379298A ,2024-07-23

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