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射频自动测试系统及方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510104745.0
申请日：
2025-01-23
公开(公告)号：
CN119561623A
公开(公告)日：
2025-03-04
发明(设计)人：
孙伟洲
申请人：
北京天辰合创科技有限公司
申请人地址：
100107 北京市朝阳区天畅园2号楼1层2-105
IPC主分类号：
H04B17/00
IPC分类号：
G01R31/00
G01R23/16
H04B17/309
代理机构：
北京鸿元知识产权代理有限公司 11327
代理人：
王迎;袁文婷
法律状态：
公开
国省代码：
北京市
市辖区
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-03-04 | 公开 | 公开 |
| 2025-03-21 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):H04B 17/00申请日:20250123 |
| 2025-09-26 | 著录事项变更 | 著录事项变更IPC(主分类):H04B 17/00变更事项:申请人变更前:北京天辰合创科技有限公司变更后:中科星图天辰科技（厦门）有限公司变更事项:国家或地区变更前:中国变更后:中国变更事项:地址变更前:北京市朝阳区天畅园2号楼1层2-105变更后:361006 福建省厦门市火炬高新区软件园三期集美北大道1105号4层 |