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接口测试方法、装置、电子设备和存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311027868.6
申请日：
2023-08-15
公开(公告)号：
CN119512917A
公开(公告)日：
2025-02-25
发明(设计)人：
郑诗雨 张乐祺 段传鹏 李振宗 易阳华
申请人：
北京沃东天骏信息技术有限公司 北京京东世纪贸易有限公司
申请人地址：
100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号院2号楼4层A402室
IPC主分类号：
G06F11/3668
IPC分类号：
代理机构：
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人：
王婷
法律状态：
公开
国省代码：
安徽省 宣城市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-02-25 公开 公开
2025-03-14 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20230815
共 50 条
[1]
接口测试方法、电子设备和存储介质 [P]. 
周童 .
中国专利 :CN120416697A ,2025-08-01
[2]
接口测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
陈定玮 .
中国专利 :CN113326184B ,2021-08-31
[3]
接口测试方法、装置和存储介质及电子设备 [P]. 
庞美飒 .
中国专利 :CN114546842A ,2022-05-27
[4]
接口测试方法、装置和存储介质及电子设备 [P]. 
庞美飒 .
中国专利 :CN114546842B ,2025-11-11
[5]
接口测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
翟宏 .
中国专利 :CN114116519A ,2022-03-01
[6]
接口测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
周小亮 .
中国专利 :CN115543817A ,2022-12-30
[7]
接口测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
钱玉东 .
中国专利 :CN117724970A ,2024-03-19
[8]
接口测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
王闪闪 .
中国专利 :CN115098371A ,2022-09-23
[9]
接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘芳 ;
吕小立 ;
刘丽珍 .
中国专利 :CN110348217A ,2019-10-18
[10]
接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
徐栋梁 ;
郭江 ;
吴海英 ;
蒋宁 .
中国专利 :CN117493153A ,2024-02-02
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