测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411759142.6

申请日：

2024-12-03

公开(公告)号：

CN119537247A

公开(公告)日：

2025-02-28

发明(设计)人：

林吉豪

申请人：

天翼云科技有限公司

申请人地址：

100007 北京市东城区青龙胡同甲1号、3号2幢2层205-32室

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

关志琨

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-28	公开	公开
2025-03-18	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20241203

共 50 条

[1]

芯片测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

雷金树 ;

游飞 ;

肖建利 ;

周扬 ;

胡勇 .

中国专利 :CN118534301A ,2024-08-23

[2]

软件测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

葛佳欣 ;

王栋梁 ;

刘蒙蒙 ;

杨晨 ;

武允文 .

中国专利 :CN119441041A ,2025-02-14

[3]

测试方法、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

季新生 ;

蒋晓维 ;

李彧 ;

张晓昱 .

中国专利 :CN118673852A ,2024-09-20

[4]

产品测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

田雨露 ;

邹翔 ;

周园 ;

周伯炎 ;

张修海 .

中国专利 :CN119473905A ,2025-02-18

[5]

测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

胡超 ;

梁伟 .

中国专利 :CN119512839A ,2025-02-25

[6]

测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

何贵 ;

王博 .

中国专利 :CN118487969A ,2024-08-13

[7]

测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

李东辉 ;

孙天宇 ;

唐高桃 .

中国专利 :CN121231875A ,2025-12-30

[8]

测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

韩旭 .

中国专利 :CN119597664A ,2025-03-11

[9]

测试方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品 [P].

席望 ;

刘伟 ;

叶王平 ;

梁慧慧 ;

唐建中 .

中国专利 :CN117930806A ,2024-04-26

[10]

测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和产品 [P].

韩雪峰 .

中国专利 :CN118132435A ,2024-06-04

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