一种半导电阻水带的测试装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202421372524.9
申请日
2024-06-17
公开(公告)号
CN222528685U
公开(公告)日
2025-02-25
发明(设计)人
黄阳 夏俊峰 郭志光 孙建生
申请人
上海电缆研究所有限公司
申请人地址
200093 上海市杨浦区军工路1000号
IPC主分类号
G01D21/02
IPC分类号
代理机构
上海光华专利事务所(普通合伙) 31219
代理人
段成鑫
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种超低电阻半导电缓冲阻水带 [P]. 
李鑫鑫 ;
王巍 .
中国专利 :CN206370306U ,2017-08-01
[2]
一种超低电阻半导电缓冲阻水带 [P]. 
李鑫鑫 ;
王巍 .
中国专利 :CN106782827A ,2017-05-31
[3]
一种半导电外屏蔽料电阻测试装置 [P]. 
韩冬冬 ;
方秋平 ;
王永 .
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[4]
一种导电膜的电阻测试装置 [P]. 
郑亮 ;
杨恒加 .
中国专利 :CN216560770U ,2022-05-17
[5]
导电物体的表面电阻测试装置 [P]. 
邱扬 ;
杜建华 .
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[6]
一种半导电屏蔽材料高温测试装置 [P]. 
肖玉朝 ;
赵文海 .
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[7]
一种导电型橡胶电阻率的测试装置 [P]. 
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渠蕊 .
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[8]
电缆用半导电阻水带 [P]. 
朱少杨 .
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[9]
防撕裂半导电阻水带 [P]. 
杨宏艳 .
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[10]
一种电阻测试装置 [P]. 
邹巍 ;
庄彤 ;
欧阳衡 ;
钟建平 ;
刘兵生 ;
王志威 .
中国专利 :CN222189340U ,2024-12-17