次亜塩素酸濃度測定装置、次亜塩素酸濃度測定プログラム及び次亜塩素酸濃度測定方法[ja]

被引：0

申请号：

JP20210095870

申请日：

2021-06-08

公开(公告)号：

JP7634827B2

公开(公告)日：

2025-02-25

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01N21/78

IPC分类号：

G01N31/00 G01N31/22

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共 50 条

[1]

次亜塩素酸イオン濃度の測定方法および次亜塩素酸イオン濃度計[ja] [P].

日本专利 :JP2022061334A ,2022-04-18

[2]

次亜塩素酸水発生装置、空間除菌装置、および次亜塩素酸濃度測定方法[ja] [P].

WATABE YOSHIFUMI ;

OBARA HIROSHI .

日本专利 :JP2024043371A ,2024-03-29

[3]

酸素濃度測定方法及び酸素濃度測定装置[ja] [P].

日本专利 :JP5826729B2 ,2015-12-02

[4]

酸素濃度測定装置及び酸素濃度測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP7127580B2 ,2022-08-30

[5]

酸素濃度測定装置及び酸素濃度測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6511282B2 ,2019-05-15

[6]

遊離塩素濃度測定システム、遊離塩素濃度測定プログラム及び遊離塩素濃度測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP7716686B2 ,2025-08-01

[7]

残留塩素濃度測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP7172524B2 ,2022-11-16

[8]

酸素濃度測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6973361B2 ,2021-11-24

[9]

次亜塩素酸イオンの測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP7677528B2 ,2025-05-15

[10]

酸素同位体濃度測定装置及び酸素同位体濃度測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP7295743B2 ,2023-06-21

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