微量金属を除去するための膜及び方法[ja]

被引：0

申请号：

JP20240544949

申请日：

2023-01-30

公开(公告)号：

JP2025505426A

公开(公告)日：

2025-02-26

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

B01D61/14

IPC分类号：

B01D71/36

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法律状态信息

共 15 条

[1]

導電性ダイヤモンド電極で微量金属を検出するための装置および方法[ja] [P].

日本专利 :JP6861255B2 ,2021-04-21

[2]

導電性ダイヤモンド電極で微量金属を検出するための装置および方法[ja] [P].

日本专利 :JP2018529981A ,2018-10-11

[3]

導電性ダイヤモンド電極で微量金属を検出するための装置および方法[ja] [P].

日本专利 :JP6827047B2 ,2021-02-10

[4]

微量金属分析用容器、その製造方法、微量金属分析の前処理方法、及び微量金属の分析方法[ja] [P].

SAEKI KOICHI ;

NAITO MAYU ;

WATANABE SHINYA ;

MIKAMI YUKARI .

日本专利 :JP2024039896A ,2024-03-25

[5]

微量金属の測定方法及び測定装置[ja] [P].

日本专利 :JP5830299B2 ,2015-12-09

[6]

微量金属分析のための半導体ウェハの気相エッチングのための方法[ja] [P].

日本专利 :JP6754842B2 ,2020-09-16

[7]

微量金属分析のための半導体ウェハの気相エッチングのための方法[ja] [P].

日本专利 :JP2019511839A ,2019-04-25

[8]

高純度アルミニウム材料を生成するための方法[ja] [P].

日本专利 :JP2024525304A ,2024-07-12

[9]

シリコン中の微量金属の定量方法[ja] [P].

日本专利 :JP2023506121A ,2023-02-15

[10]

シリコン中の微量金属の定量方法[ja] [P].

日本专利 :JP7441942B2 ,2024-03-01