高度可调式晶片支撑件以及用于调节晶片的高度的方法

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专利类型
发明
申请号
CN202010909895.6
申请日
2020-09-02
公开(公告)号
CN113257733B
公开(公告)日
2025-03-07
发明(设计)人
林明兴 罗国纶 陈俊良 颜益祈
申请人
台湾积体电路制造股份有限公司
申请人地址
中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行六路八号
IPC主分类号
H01L21/683
IPC分类号
代理机构
南京正联知识产权代理有限公司 32243
代理人
王素琴
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
高度可调式晶片支撑件以及用于调节晶片的高度的方法 [P]. 
林明兴 ;
罗国纶 ;
陈俊良 ;
颜益祈 .
中国专利 :CN113257733A ,2021-08-13
[2]
高度可调式支撑件 [P]. 
杨贵柏 ;
马会军 ;
梁超 .
中国专利 :CN205857798U ,2017-01-04
[3]
用于车辆的高度可调支撑件 [P]. 
赖因霍尔德·里德利 .
中国专利 :CN105916744A ,2016-08-31
[4]
一种高度可调的半导体晶片封装设备 [P]. 
向军 .
中国专利 :CN206907743U ,2018-01-19
[5]
用于半挂车的可调节高度的支撑件 [P]. 
赖因霍尔德·里德利 .
中国专利 :CN102015388A ,2011-04-13
[6]
用于移动设备的可调节高度的支撑件 [P]. 
菲利普·巴雷 ;
朱利恩·博勒加尔 ;
克里斯托弗·布吕纳尔 ;
塞尔吉奥·达科斯塔皮托 ;
布鲁诺·迪南特 .
中国专利 :CN105765288B ,2016-07-13
[7]
用于生长半导体晶片的装置和支撑件 [P]. 
R·安扎隆 ;
N·法拉泽托 ;
F·拉维亚 .
中国专利 :CN212750852U ,2021-03-19
[8]
晶片吸盘、使用所述晶片吸盘以及用于测试半导体晶片的方法 [P]. 
P·伊尔西格勒 ;
T·C·奈德哈特 ;
R·策尔扎赫尔 .
中国专利 :CN107845599A ,2018-03-27
[9]
用于测量在半导体晶片上的高度的方法及设备 [P]. 
李诗芳 ;
赵国衡 .
中国专利 :CN107683400A ,2018-02-09
[10]
用于半挂车等的可调节高度的支撑件 [P]. 
赖因霍尔德·里德利 .
中国专利 :CN102256837A ,2011-11-23