性能测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411792410.4

申请日：

2024-12-07

公开(公告)号：

CN119696674A

公开(公告)日：

2025-03-25

发明(设计)人：

刘正宇高霞龚雅栋刘昊周恒

申请人：

中国电信股份有限公司技术创新中心中国电信股份有限公司

申请人地址：

102209 北京市昌平区北七家镇未来科技城南区中国电信北京信息科技创新园11层1118室、1116室

IPC主分类号：

H04B10/079

IPC分类号：

H04B10/071 H04J14/02

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

舒丁

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-11	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):H04B 10/079申请日:20241207
2025-03-25	公开	公开

共 50 条

[1]

测试方法、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

季新生 ;

蒋晓维 ;

李彧 ;

张晓昱 .

中国专利 :CN118673852A ,2024-09-20

[2]

测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

胡超 ;

梁伟 .

中国专利 :CN119512839A ,2025-02-25

[3]

测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

李东辉 ;

孙天宇 ;

唐高桃 .

中国专利 :CN121231875A ,2025-12-30

[4]

测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

韩旭 .

中国专利 :CN119597664A ,2025-03-11

[5]

设备测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

何米超 .

中国专利 :CN121233405A ,2025-12-30

[6]

性能预测方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

杨子航 ;

孙宇文 ;

李韬 .

中国专利 :CN119537176A ,2025-02-28

[7]

性能评估方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

廖玉薇 ;

王耀南 ;

宗凌 ;

谈儒猛 ;

石莹 .

中国专利 :CN119847893A ,2025-04-18

[8]

性能优化方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

夏依旭 ;

潘潘 ;

姜政富 .

中国专利 :CN118964013A ,2024-11-15

[9]

系统测试方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品 [P].

魏玮 .

中国专利 :CN119669085A ,2025-03-21

[10]

芯片测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P].

游飞 ;

李茂 ;

张驰恒 .

中国专利 :CN120066875A ,2025-05-30

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