一种FPGA测试方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510163247.3

申请日：

2025-02-14

公开(公告)号：

CN119621456A

公开(公告)日：

2025-03-14

发明(设计)人：

缪淦昌韦援丰蔡刚魏育成

申请人：

中科亿海微电子科技（苏州）有限公司

申请人地址：

215127 江苏省苏州市吴中区甪直镇长虹北路169号吴淞江商务区A幢2层

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G06F11/273

代理机构：

苏州石金知识产权代理事务所(普通合伙) 32844

代理人：

张璐豪

法律状态：

公开

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-14	公开	公开
2025-04-01	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20250214

共 50 条

[1]

一种FPGA测试平台及方法 [P].

马庆 ;

李宁 .

中国专利 :CN106841974A ,2017-06-13

[2]

一种FPGA芯片功能测试装置及方法 [P].

徐展 ;

李朝历 ;

李想 .

中国专利 :CN109541445A ,2019-03-29

[3]

一种FPGA测试数据采集方法、FPGA及装置 [P].

谢宝婷 .

中国专利 :CN119226062A ,2024-12-31

[4]

一种FPGA逻辑测试方法及装置 [P].

贺莹 ;

田莉蓉 ;

王闯 .

中国专利 :CN113505063B ,2021-10-15

[5]

一种FPGA配置电路CFG的测试系统和测试方法 [P].

段爱霞 ;

段美霞 ;

黄永志 ;

江勇 ;

白娟 ;

段艳玲 ;

杨阳蕊 .

中国专利 :CN109709472A ,2019-05-03

[6]

一种FPGA芯片高温测试方法及装置 [P].

李国光 ;

潘勇 ;

徐成华 ;

魏育成 ;

柳敬云 .

中国专利 :CN116699375B ,2024-01-19

[7]

一种FPGA芯片高温筛选测试装置及其测试方法 [P].

王兰来 ;

孔泽斌 ;

刘大鹏 ;

张为伟 ;

江芸 ;

王昆黍 ;

刘伟 ;

徐导进 ;

汪波 ;

祝伟明 .

中国专利 :CN117890758A ,2024-04-16

[8]

FPGA芯片测试方法、装置、系统及存储介质 [P].

张家华 ;

刘伟 ;

刘乐 ;

魏寅 ;

曾岩 ;

赵海洋 ;

孔晓琳 ;

李安平 .

中国专利 :CN113376514B ,2021-09-10

[9]

基于FPGA重构技术的CPU测试系统及方法 [P].

程石林 ;

周毅 ;

朱维 ;

陆暤冉 ;

刘上 ;

文渊 .

中国专利 :CN107122274A ,2017-09-01

[10]

一种FPGA芯片逻辑资源测试方法及装置 [P].

王国伟 ;

田军 ;

贾弘翊 ;

韦嶔 ;

张红荣 .

中国专利 :CN118012684A ,2024-05-10

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