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基于光谱的芯片缺陷检测方法及相关设备

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411894265.0
申请日：
2024-12-20
公开(公告)号：
CN119619177A
公开(公告)日：
2025-03-14
发明(设计)人：
彭文强 何浩生 吴楷鸿
申请人：
深圳芯闻智慧科技有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市宝安区新安街道兴东社区69区中粮创芯研发中心4栋1607
IPC主分类号：
G01N21/956
IPC分类号：
G01N21/88 G01N21/31 G01N21/15
代理机构：
北京华艺德嘉知识产权代理有限公司 16326
代理人：
吉兴祥
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-03-14 公开 公开
2025-04-01 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/956申请日:20241220
共 50 条
[1]
一种基于光谱成像的缺陷检测方法和相关设备 [P]. 
余向阳 ;
蔡烨帆 ;
郭宇晨 ;
洪伟槟 .
中国专利 :CN121207877A ,2025-12-26
[2]
基于移动平台的缺陷检测实现方法、缺陷检测方法及相关设备 [P]. 
唐浩然 ;
张学习 .
中国专利 :CN110503644A ,2019-11-26
[3]
聚氨酯滚轮的缺陷检测方法及相关设备 [P]. 
符子洋 ;
李万君 ;
周绪红 ;
陈尚廷 .
中国专利 :CN119741698A ,2025-04-01
[4]
缺陷检测方法及相关设备 [P]. 
伍广彬 ;
郭龙 ;
张中峰 ;
鲁晨阳 .
中国专利 :CN120833301A ,2025-10-24
[5]
缺陷检测系统、缺陷检测方法及相关设备 [P]. 
李耀 ;
李海波 ;
牛茂龙 ;
于得水 .
中国专利 :CN117871538A ,2024-04-12
[6]
基于模型的代码缺陷检测方法及相关设备 [P]. 
魏龙 ;
高安凝哲 ;
翁志强 ;
廖述峰 ;
刘斯灏 ;
赵熙提 ;
彭剑 ;
原超超 ;
贾瑞琦 ;
马祥杰 ;
朱宣任 .
中国专利 :CN121092419A ,2025-12-09
[7]
芯片缺陷检测方法及系统 [P]. 
柏钧蓝 .
中国专利 :CN110672620B ,2020-01-10
[8]
陀螺仪芯片的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
闫国民 ;
刘玉县 ;
徐世凯 ;
徐莉 ;
崔广泰 .
中国专利 :CN117557510A ,2024-02-13
[9]
缺陷检测方法、缺陷检测网络的训练方法及相关设备 [P]. 
伍广彬 ;
郭龙 ;
张中峰 ;
鲁晨阳 .
中国专利 :CN118314110A ,2024-07-09
[10]
缺陷检测方法、缺陷检测网络的训练方法及相关设备 [P]. 
伍广彬 ;
郭龙 ;
张中峰 ;
鲁晨阳 .
中国专利 :CN118314110B ,2024-11-19
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