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一种绝缘镀层缺陷检测方法及检测系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411718953.1
申请日
:
2024-11-28
公开(公告)号
:
CN119224113B
公开(公告)日
:
2025-03-11
发明(设计)人
:
崔佳平
胡兵
王永超
赵泽良
王东旭
申请人
:
上海贺东电子材料有限公司
申请人地址
:
201500 上海市金山区九工路1688弄3幢7号
IPC主分类号
:
G01N27/92
IPC分类号
:
代理机构
:
上海港慧专利代理事务所(普通合伙) 31402
代理人
:
龚张迪
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
上海市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-01-17
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01N 27/92申请日:20241128
2024-12-31
公开
公开
2025-03-11
授权
授权
共 50 条
[1]
一种绝缘镀层缺陷检测方法及检测系统
[P].
崔佳平
论文数:
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机构:
上海贺东电子材料有限公司
上海贺东电子材料有限公司
崔佳平
;
胡兵
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机构:
上海贺东电子材料有限公司
上海贺东电子材料有限公司
胡兵
;
王永超
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机构:
上海贺东电子材料有限公司
上海贺东电子材料有限公司
王永超
;
赵泽良
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机构:
上海贺东电子材料有限公司
上海贺东电子材料有限公司
赵泽良
;
王东旭
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机构:
上海贺东电子材料有限公司
上海贺东电子材料有限公司
王东旭
.
中国专利
:CN119224113A
,2024-12-31
[2]
一种检测系统、检测方法、缺陷检测设备及缺陷检测方法
[P].
请求不公布姓名
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机构:
聚时科技(上海)有限公司
聚时科技(上海)有限公司
请求不公布姓名
;
吴昌力
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机构:
聚时科技(上海)有限公司
聚时科技(上海)有限公司
吴昌力
;
郑军
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机构:
聚时科技(上海)有限公司
聚时科技(上海)有限公司
郑军
.
中国专利
:CN119290906A
,2025-01-10
[3]
一种检测系统、调节方法、缺陷检测设备及缺陷检测方法
[P].
请求不公布姓名
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机构:
聚时科技(上海)有限公司
聚时科技(上海)有限公司
请求不公布姓名
;
吴昌力
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机构:
聚时科技(上海)有限公司
聚时科技(上海)有限公司
吴昌力
.
中国专利
:CN118706845A
,2024-09-27
[4]
一种检测系统、检测方法及缺陷检测设备
[P].
肖倩
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聚时科技(上海)有限公司
聚时科技(上海)有限公司
肖倩
;
王奇
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聚时科技(上海)有限公司
聚时科技(上海)有限公司
王奇
;
吴昌力
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机构:
聚时科技(上海)有限公司
聚时科技(上海)有限公司
吴昌力
.
中国专利
:CN120609843A
,2025-09-09
[5]
一种缺陷检测方法及缺陷检测系统
[P].
茹泽伟
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茹泽伟
;
刁梁
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刁梁
;
付磊
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付磊
.
中国专利
:CN113405994A
,2021-09-17
[6]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
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机构:
陈鲁
;
黄有为
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
黄有为
;
张龙
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张龙
;
朱燕明
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深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
朱燕明
;
王建龙
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
王建龙
.
中国专利
:CN120847114A
,2025-10-28
[7]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
曹阳
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机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
曹阳
;
谢佳
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机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
谢佳
;
翟攀攀
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机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
翟攀攀
;
严兵华
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机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
严兵华
;
施明志
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机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
施明志
;
郭育诚
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机构:
福州恒美光电材料有限公司
福州恒美光电材料有限公司
郭育诚
.
中国专利
:CN120213930A
,2025-06-27
[8]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
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机构:
陈鲁
;
黄有为
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
黄有为
;
张龙
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张龙
;
赵康俊
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
赵康俊
;
刘英见
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
刘英见
.
中国专利
:CN120801333A
,2025-10-17
[9]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
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机构:
陈鲁
;
黄有为
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
黄有为
;
张龙
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张龙
;
赵康俊
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
赵康俊
;
刘英见
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
刘英见
.
中国专利
:CN120801333B
,2025-12-09
[10]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
田依杉
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机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
田依杉
;
兰艳平
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机构:
上海御微半导体技术有限公司
上海御微半导体技术有限公司
兰艳平
.
中国专利
:CN115508364B
,2025-04-25
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