一种绝缘镀层缺陷检测方法及检测系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411718953.1
申请日
2024-11-28
公开(公告)号
CN119224113B
公开(公告)日
2025-03-11
发明(设计)人
崔佳平 胡兵 王永超 赵泽良 王东旭
申请人
上海贺东电子材料有限公司
申请人地址
201500 上海市金山区九工路1688弄3幢7号
IPC主分类号
G01N27/92
IPC分类号
代理机构
上海港慧专利代理事务所(普通合伙) 31402
代理人
龚张迪
法律状态
实质审查的生效
国省代码
上海市 市辖区
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共 50 条
[1]
一种绝缘镀层缺陷检测方法及检测系统 [P]. 
崔佳平 ;
胡兵 ;
王永超 ;
赵泽良 ;
王东旭 .
中国专利 :CN119224113A ,2024-12-31
[2]
一种检测系统、检测方法、缺陷检测设备及缺陷检测方法 [P]. 
请求不公布姓名 ;
吴昌力 ;
郑军 .
中国专利 :CN119290906A ,2025-01-10
[3]
一种检测系统、调节方法、缺陷检测设备及缺陷检测方法 [P]. 
请求不公布姓名 ;
吴昌力 .
中国专利 :CN118706845A ,2024-09-27
[4]
一种检测系统、检测方法及缺陷检测设备 [P]. 
肖倩 ;
王奇 ;
吴昌力 .
中国专利 :CN120609843A ,2025-09-09
[5]
一种缺陷检测方法及缺陷检测系统 [P]. 
茹泽伟 ;
刁梁 ;
付磊 .
中国专利 :CN113405994A ,2021-09-17
[6]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P]. 
陈鲁 ;
黄有为 ;
张龙 ;
朱燕明 ;
王建龙 .
中国专利 :CN120847114A ,2025-10-28
[7]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P]. 
曹阳 ;
谢佳 ;
翟攀攀 ;
严兵华 ;
施明志 ;
郭育诚 .
中国专利 :CN120213930A ,2025-06-27
[8]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P]. 
陈鲁 ;
黄有为 ;
张龙 ;
赵康俊 ;
刘英见 .
中国专利 :CN120801333A ,2025-10-17
[9]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P]. 
陈鲁 ;
黄有为 ;
张龙 ;
赵康俊 ;
刘英见 .
中国专利 :CN120801333B ,2025-12-09
[10]
一种缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P]. 
田依杉 ;
兰艳平 .
中国专利 :CN115508364B ,2025-04-25