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功率器件的测试方法和测试电路

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411733266.7
申请日：
2024-11-29
公开(公告)号：
CN119575115A
公开(公告)日：
2025-03-07
发明(设计)人：
张海涛 陈宏亮 刘惠鹏 闫肃 樊晨
申请人：
华峰测控技术（天津）有限责任公司 北京华峰测控技术股份有限公司
申请人地址：
300450 天津市滨海新区中新天津生态城川博道1201号
IPC主分类号：
G01R31/26
IPC分类号：
G01R27/08
代理机构：
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人：
蔡舒野
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
北京市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-03-25 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/26申请日:20241129
2025-03-07 公开 公开
共 50 条
[1]
功率器件的测试电路和测试方法 [P]. 
张海涛 ;
陈宏亮 ;
刘惠鹏 ;
闫肃 ;
樊晨 .
中国专利 :CN119575114A ,2025-03-07
[2]
功率器件的测试电路及测试方法 [P]. 
邱金朋 ;
沈竞宇 .
中国专利 :CN119375647A ,2025-01-28
[3]
功率器件开关特性的测试电路及其测试方法 [P]. 
张海涛 ;
陈宏亮 ;
刘惠鹏 ;
闫肃 ;
樊晨 .
中国专利 :CN119575116A ,2025-03-07
[4]
一种功率器件的测试电路和测试方法 [P]. 
陈跃俊 ;
刘惠鹏 .
中国专利 :CN121142262A ,2025-12-16
[5]
功率器件动态电阻的测试电路及测试方法 [P]. 
李凯 ;
雷嘉成 .
中国专利 :CN119247090A ,2025-01-03
[6]
一种功率器件测试电路、控制方法及功率器件的测试方法 [P]. 
朱占山 ;
王玲辉 ;
赵慧超 ;
蔡明浩 ;
张月馨 .
中国专利 :CN119414193A ,2025-02-11
[7]
器件测试电路和器件测试方法 [P]. 
朱吉新 ;
江舸 ;
何志志 ;
何杏 .
中国专利 :CN120385903A ,2025-07-29
[8]
一种功率器件的失效测试电路和失效测试方法 [P]. 
刘国友 ;
黄建伟 ;
罗海辉 ;
覃荣震 ;
余伟 ;
朱利恒 .
中国专利 :CN104764988A ,2015-07-08
[9]
对功率器件进行测试的方法与实现测试方法的测试电路 [P]. 
汪智威 ;
金锐 ;
陈中圆 ;
李翠 .
中国专利 :CN119178980B ,2025-04-11
[10]
对功率器件进行测试的方法与实现测试方法的测试电路 [P]. 
汪智威 ;
金锐 ;
陈中圆 ;
李翠 .
中国专利 :CN119178980A ,2024-12-24
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