金属密封圈测试装置及金属密封圈测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411719330.6

申请日：

2024-11-28

公开(公告)号：

CN119197931B

公开(公告)日：

2025-03-14

发明(设计)人：

张靖煊黄伟光堵树宏丁亮张帅杰于沛李亚飞汪晨辉赵紫薇

申请人：

中国科学院上海高等研究院中国核电工程有限公司

申请人地址：

201210 上海市浦东新区海科路99号

IPC主分类号：

G01M3/26

IPC分类号：

G01D21/02

代理机构：

上海光华专利事务所(普通合伙) 31219

代理人：

余明伟

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01M 3/26申请日:20241128
2024-12-27	公开	公开
2025-03-14	授权	授权

共 50 条

[1]

金属密封圈测试装置及金属密封圈测试方法 [P].

张靖煊 ;

黄伟光 ;

堵树宏 ;

丁亮 ;

张帅杰 ;

于沛 ;

李亚飞 ;

汪晨辉 ;

赵紫薇 .

中国专利 :CN119197931A ,2024-12-27

[2]

金属密封圈 [P].

张虞旭驹 .

中国专利 :CN204175953U ,2015-02-25

[3]

金属密封圈 [P].

黄河 .

中国专利 :CN203114231U ,2013-08-07

[4]

金属密封圈 [P].

王纯国 .

中国专利 :CN203404372U ,2014-01-22

[5]

金属密封圈 [P].

胡长松 ;

潘泽 .

中国专利 :CN203463663U ,2014-03-05

[6]

金属密封圈 [P].

胡长松 ;

潘泽 .

中国专利 :CN203463645U ,2014-03-05

[7]

高压密封圈测试装置 [P].

高明忠 ;

谢和平 ;

陈领 ;

张志龙 ;

吴年汉 ;

李聪 ;

李佳南 ;

何志强 ;

杨明庆 ;

余波 ;

胡云起 ;

黄伟 .

中国专利 :CN210774535U ,2020-06-16

[8]

密封圈寿命测试装置 [P].

李豪杰 ;

伏振峰 .

中国专利 :CN102221456B ,2011-10-19

[9]

密封圈寿命测试装置 [P].

李豪杰 ;

伏振峰 .

中国专利 :CN201965021U ,2011-09-07

[10]

高压密封圈测试装置及测试方法 [P].

高明忠 ;

谢和平 ;

陈领 ;

张志龙 ;

吴年汉 ;

李聪 ;

李佳南 ;

何志强 ;

杨明庆 ;

余波 ;

胡云起 ;

黄伟 .

中国专利 :CN110823467A ,2020-02-21

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