一种NAND数据正确性校验方法和系统、装置、介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411687927.7

申请日：

2024-11-25

公开(公告)号：

CN119576234A

公开(公告)日：

2025-03-07

发明(设计)人：

唐汉钊徐源长刘浩旭曹成王璞

申请人：

山东华芯半导体有限公司

申请人地址：

250101 山东省济南市高新区经十东路汉峪金谷A2-3第16层1601室

IPC主分类号：

G06F3/06

IPC分类号：

代理机构：

济南泉城专利商标事务所 37218

代理人：

张秀福

法律状态：

公开

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-07	公开	公开
2025-03-25	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 3/06申请日:20241125

共 50 条

[1]

用于软件集成正确性的校验方法及装置、电子设备 [P].

加雨沁 ;

谭秀全 ;

周加谊 ;

龚德平 .

中国专利 :CN120704731A ,2025-09-26

[2]

一种测试路由转发表正确性的方法和系统 [P].

刘宝琴 .

中国专利 :CN104301186A ,2015-01-21

[3]

一种数据校验方法和装置 [P].

罗庆超 .

中国专利 :CN107430533A ,2017-12-01

[4]

一种数据校验方法、装置、设备和存储介质 [P].

王杰 ;

胡兵 ;

林炜锋 ;

李少青 ;

傅强 ;

杨满智 ;

金红 ;

陈晓光 .

中国专利 :CN119248756A ,2025-01-03

[5]

基于NAND闪存的阈值电压校验方法、装置和NAND存储设备 [P].

苏志强 ;

刘会娟 ;

李建新 .

中国专利 :CN106971760A ,2017-07-21

[6]

一种数据校验方法、装置、设备及介质 [P].

李瑞东 ;

崔子浩 ;

刘奇浩 ;

石鹏 ;

宋超 .

中国专利 :CN119561655B ,2025-05-09

[7]

一种数据校验方法、装置、设备及介质 [P].

李瑞东 ;

崔子浩 ;

刘奇浩 ;

石鹏 ;

宋超 .

中国专利 :CN119561655A ,2025-03-04

[8]

一种数据校验方法及系统 [P].

杨苗苗 ;

王东晋 ;

刘金宇 ;

李子龙 ;

葛建明 ;

王晓刚 ;

付红剑 ;

王宁 ;

翟夏普 ;

罗逸文 ;

高钰涵 ;

王荣笙 ;

高浩翔 ;

龙艺璇 .

中国专利 :CN118761748B ,2024-12-10

[9]

一种数据校验方法及系统 [P].

杨苗苗 ;

王东晋 ;

刘金宇 ;

李子龙 ;

葛建明 ;

王晓刚 ;

付红剑 ;

王宁 ;

翟夏普 ;

罗逸文 ;

高钰涵 ;

王荣笙 ;

高浩翔 ;

龙艺璇 .

中国专利 :CN118761748A ,2024-10-11

[10]

取证数据解析准确性的智能校验方法和系统 [P].

陈碧秀 ;

吴高峰 ;

江汉祥 ;

施剑朕 ;

吴神培 ;

连洲红 .

中国专利 :CN108629012A ,2018-10-09

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